[发明专利]一种液晶模组缺陷检测后的复判分层方法

摘要

本发明公开一种液晶模组缺陷检测后的复判分层方法，包括如下步骤：根据预先定义的液晶层的物理位置，调节相机的聚焦点以获取液晶层的最佳成像物理位置，定义最佳成像物理位置为原点位置；通过相机检测缺陷是否存在于液晶层；根据预先获得的上偏光片距液晶层的距离及下偏光片距液晶层的距离，调节相机的聚焦点至上偏光片或下偏光片，以检测缺陷是否存在于上偏光片或下偏光片；根据缺陷是否存在，从而确定该缺陷的真实物理层级；根据上表面到液晶层的物理距离，调节相机的聚焦点至上表面，检测上表面是否有灰尘，从而判断是否为灰尘误判。本发明可以解决现有技术中自动检测设备中无法实现的缺陷分层问题，判断是否为检测时未滤除的表面灰尘的问题。

主权项

一种液晶模组缺陷检测后的复判分层方法，通过相机对液晶模组进行分层检测，所述液晶模组包括依序排列的上偏光片、液晶层、下偏光片，并设定所述上偏光片远离所述液晶层的一面为上表面，其特征在于，包括如下步骤：根据预先定义的所述液晶层的物理位置，调节所述相机的聚焦点以获取所述液晶层的最佳成像物理位置，定义所述最佳成像物理位置为原点位置，从所述原点位置往所述上偏光片一侧为正方向，从所述原点位置往所述下偏光片一侧为负方向；通过所述相机对所述液晶层进行检测，以检测缺陷是否存在于所述液晶层；根据预先获得的所述上偏光片距所述液晶层的物理距离及所述下偏光片距所述液晶层的物理距离，调节所述相机的聚焦点至所述上偏光片或所述下偏光片，以检测缺陷是否存在于所述上偏光片或所述下偏光片；根据缺陷是否存在，从而确定该缺陷的真实物理层级；根据所述上表面到所述液晶层的物理距离，调节所述相机的聚焦点至所述上表面，检测所述上表面是否有灰尘，从而判断是否为灰尘误判。