[发明专利]提高三维测量仪器测量精度的支撑机构

摘要

本发明公开了提高三维测量仪器测量精度的支撑机构，包括基座，所述基座上设有弧形的轨道，轨道的两端分别连接在基座的顶部，轨道上设有弧形的活动块，活动块的弧度与轨道的弧度一致，活动块套在轨道上，并且能够在轨道上移动，活动块上设有连接杆，连接杆上设有用于放置测量仪器的放置台，放置台能够跟着活动块一起移动，基座的顶部还设有高度能够调节的支撑柱，支撑柱的顶部设有支撑台，支撑台用于放置被测物体，支撑台能够绕着支撑柱的轴线转动。本发明将待侧物体放置在支撑台上，将三维测量仪器固定在放置台上，沿着轨道移动活动块和转动支撑台就能够对待测物进行测量，在测量的过程中，保证三维测量仪器的焦点准确，提高测量精度。

主权项

提高三维测量仪器测量精度的支撑机构，其特征在于：包括基座(1)，所述基座(1)上设有弧形的轨道(2)，轨道(2)的两端分别连接在基座(1)的顶部，轨道(2)上设有弧形的活动块(4)，活动块(4)的弧度与轨道(2)的弧度一致，活动块(4)套在轨道(2)上，并且能够在轨道(2)上移动，活动块(4)上设有连接杆(6)，连接杆(6)上设有用于放置测量仪器的放置台，放置台能够跟着活动块(4)一起移动，所述基座(1)的顶部还设有高度能够调节的支撑柱(14)，支撑柱(14)的顶部设有支撑台(10)，支撑台(10)用于放置被测物体，并且支撑台(10)能够绕着支撑柱(14)的轴线转动。