[发明专利]内置光网络单元的智能变电站二次设备的测试方法、系统及二次设备有效

专利信息
申请号: 201710614231.5 申请日: 2017-07-25
公开(公告)号: CN107343230B 公开(公告)日: 2018-06-26
发明(设计)人: 徐嘉龙;杜振华;朱炳铨;杨才明;刘刚;朱玛;李勇;余杰;俞小虎;陈骏杰;马平;余新生 申请(专利权)人: 国网浙江省电力公司绍兴供电公司;北京四方继保自动化股份有限公司
主分类号: H04Q11/00 分类号: H04Q11/00;H04B10/077;H04L12/24
代理公司: 北京金咨知识产权代理有限公司 11612 代理人: 宋教花
地址: 312000 *** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种内置光网络单元的智能变电站二次设备的测试方法、系统及二次设备,智能变电站二次设备的数据通信单板插件上设置有千兆调试口,该方法包括以下步骤:由外部测试仪输出测试数据;经由所述千兆调试口将测试数据输入至智能变电站二次设备;将测试数据经所述智能变电站二次设备的内置ONU的业务口输出至光线路终端OLT;将测试数据经外置ONU返回到测试仪,从而形成测试闭环,进行闭环自动测试。本发明的方法可以为智能变电站二次设备的单板或整机测试带来方便,提高测试效率。
搜索关键词: 二次设备 智能变电站 测试数据 内置 闭环 光网络单元 测试仪 测试 单板 调试 输出测试数据 光线路终端 测试效率 数据通信 整机测试 自动测试 业务口 插件 外置 输出 返回 外部
【主权项】:
1.一种内置有光网络单元ONU的智能变电站二次设备的测试方法,其特征在于,所述智能变电站二次设备的数据通信单板插件上设置有千兆调试口,该方法包括以下步骤:由外部测试仪输出测试数据;经由所述千兆调试口将测试数据输入至智能变电站二次设备;将测试数据经所述智能变电站二次设备的内置ONU的业务口输出至光线路终端OLT;将测试数据经外置ONU返回到测试仪,从而形成测试闭环,进行闭环自动测试。
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