[发明专利]检测任意波长光学系统的透射波前的方法有效
申请号: | 201710615484.4 | 申请日: | 2017-07-26 |
公开(公告)号: | CN107462401B | 公开(公告)日: | 2019-07-05 |
发明(设计)人: | 韩森;张齐元;唐寿鸿 | 申请(专利权)人: | 苏州维纳仪器有限责任公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 上海德昭知识产权代理有限公司 31204 | 代理人: | 郁旦蓉 |
地址: | 215000 江苏省苏州市苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: |
本发明提供了一种检测任意波长光学系统的透射波前的方法,具有这样的特征,包括以下步骤:步骤一,利用R种波长为λ1~λm的激光干涉仪分别对光学系统进行检测,分别得到光学系统在波长为λ1~λm的Zernike多项式Z1(λ1)、Z2(λ1)、……Zk(λ1),……,以及Z1(λ2)、Z2(λ2)、……Zk(λ2);步骤二,将步骤一得到的Zernike多项式代入公式: |
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搜索关键词: | 光学系统 波长 透射波 波长光学系统 激光干涉仪 计算参数 种检测 检测 拟合 式中 | ||
【主权项】:
1.一种检测任意波长光学系统的透射波前的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一,利用R种波长为λ1~λm的激光干涉仪分别对光学系统进行检测,分别得到所述光学系统在波长为λ1~λm的Zernike多项式Z1(λ1)、Z2(λ1)、……Zk(λ1),……,以及Z1(λm)、Z2(λm)、……Zk(λm);步骤二,将步骤一得到的Zernike多项式代入公式:
式中,i=1,2,3,…,k,k≤37,m=1,2,3,…,R,R≥2,2R‑3≤XR‑1≤2R‑2,计算参数A1i、A2i…ARi的值;步骤三,将计算得到的A1i、A2i…ARi的值代入所述公式中,计算波长为λn的光学系统的Zernike多项式Zk(λn);以及步骤四,根据Zk(λn)拟合波长为λn的光学系统的透射波前,其中,200nm≤λ1≠…≠λm≠λn≤2000nm。
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