[发明专利]检测任意波长光学系统的透射波前的方法有效

专利信息
申请号: 201710615484.4 申请日: 2017-07-26
公开(公告)号: CN107462401B 公开(公告)日: 2019-07-05
发明(设计)人: 韩森;张齐元;唐寿鸿 申请(专利权)人: 苏州维纳仪器有限责任公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 上海德昭知识产权代理有限公司 31204 代理人: 郁旦蓉
地址: 215000 江苏省苏州市苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种检测任意波长光学系统的透射波前的方法,具有这样的特征,包括以下步骤:步骤一,利用R种波长为λ1~λm的激光干涉仪分别对光学系统进行检测,分别得到光学系统在波长为λ1~λm的Zernike多项式Z11)、Z21)、……Zk1),……,以及Z12)、Z22)、……Zk2);步骤二,将步骤一得到的Zernike多项式代入公式:式中,i=1,2,3,…,k,k≤37,m=1,2,3,…,R,R≥2,2R‑1≤XR‑1≤2R,计算参数A1i、A2i…ARi的值;步骤三,将计算得到的A1i、A2i…ARi的值代入公式中,计算波长为λn的光学系统的Zernike多项式Zkn);步骤四,根据Zkn)拟合波长为λn的光学系统的透射波前,其中,200nm≤λ1≠…≠λm≠λn≤2000nm。
搜索关键词: 光学系统 波长 透射波 波长光学系统 激光干涉仪 计算参数 种检测 检测 拟合 式中
【主权项】:
1.一种检测任意波长光学系统的透射波前的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一,利用R种波长为λ1~λm的激光干涉仪分别对光学系统进行检测,分别得到所述光学系统在波长为λ1~λm的Zernike多项式Z11)、Z21)、……Zk1),……,以及Z1m)、Z2m)、……Zkm);步骤二,将步骤一得到的Zernike多项式代入公式:式中,i=1,2,3,…,k,k≤37,m=1,2,3,…,R,R≥2,2R‑3≤XR‑1≤2R‑2,计算参数A1i、A2i…ARi的值;步骤三,将计算得到的A1i、A2i…ARi的值代入所述公式中,计算波长为λn的光学系统的Zernike多项式Zkn);以及步骤四,根据Zkn)拟合波长为λn的光学系统的透射波前,其中,200nm≤λ1≠…≠λm≠λn≤2000nm。
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