[发明专利]一种采用积分光度法的局部放电测量装置及测量方法有效
| 申请号： | 201710617363.3 | 申请日： | 2017-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN107478966B | 公开（公告）日： | 2020-03-31 |
| 发明（设计）人： | 高凯;徐鹏;刘君华;谢小松;钱勇;傅晨钊;田昊洋;许永鹏;薛爱惠平 | 申请（专利权）人： | 国网上海市电力公司;华东电力试验研究院有限公司;上海交通大学 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 赵志远 |
| 地址： | 200002 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种采用积分光度法的局部放电测量装置及测量方法，该装置包括：积分球：用于提供密闭环境并且内置放电缺陷模型，其内部表面涂有漫反射涂层，通过积分光度法将放电缺陷模型产生不同种类的光信号进行多次均匀的漫反射并输出；电源模块：设置在积分球外部且与放电缺陷模型连接，用以为放电缺陷模型提供不同参数的电源；积分球内环境调节组件：与积分球连通，用以改变积分球内的气体环境，包括气体种类、气压、温度和湿度；参数探测组件：与电源模块连接，用以获取积分球的光参数、环境参数和电参数，并且进行处理和显示。与现有技术相比，本发明具有有效收集信号、放电环境可控、检测准确性高等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 采用 积分 光度 局部 放电 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
一种采用积分光度法的局部放电测量装置，其特征在于，该装置包括：积分球(1)：用于提供密闭环境并且内置放电缺陷模型(2)，其内部表面涂有漫反射涂层，通过积分光度法将放电缺陷模型(2)产生不同种类的光信号进行多次均匀的漫反射并输出；电源模块(3)：设置在积分球(1)外部且与放电缺陷模型(2)连接，用以为放电缺陷模型(2)提供不同参数的电源；积分球内环境调节组件：与积分球(1)连通，用以改变积分球内的气体环境，包括气体种类、气压、温度和湿度；参数探测组件：与电源模块(3)连接，用以获取积分球(1)的光参数、环境参数和电参数，并且进行处理和显示。
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