[发明专利]衬托器、气相生长装置及气相生长方法有效

专利信息
申请号: 201710620096.5 申请日: 2017-07-26
公开(公告)号: CN109306468B 公开(公告)日: 2020-10-16
发明(设计)人: 肖德元 申请(专利权)人: 上海新昇半导体科技有限公司
主分类号: C23C16/455 分类号: C23C16/455;C23C16/458;C30B25/12;C30B25/14
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 余昌昊
地址: 201306 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种衬托器、一种气相生长装置及一种气相生长方法,所述衬托器用于所述气相生长装置,所述衬托器包括一底部和包围所述底部的侧部,所述底部和侧部限定有用以载置基底(例如半导体晶片)的凹坑,在所述衬托器的底部形成有顶杆孔,并且,所述衬托器还形成有一开口以及位于其底部的空心通道,所述开口通过所述空心通道与至少一个顶杆孔连通。使用本发明提供的气相生长方法,在气相生长过程中,由所述开口向所述空心通道内通入吹扫气体,吹扫气体流动到顶杆孔内,对位于顶杆孔下方的工艺气体具有阻挡作用,从而减少或避免工艺气体流动到基底的背面导致不必要的沉积。
搜索关键词: 衬托 相生 装置 方法
【主权项】:
1.一种衬托器,所述衬托器包括一底部和包围所述底部的侧部,所述底部和侧部限定有用以载置一基底的凹坑,所述衬托器上形成有多个贯穿所述底部的顶杆孔,其特征在于,所述衬托器上还形成有一开口以及空心通道,所述开口通过空心通道与至少一个顶杆孔连通。
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