[发明专利]衬托器、气相生长装置及气相生长方法有效
申请号: | 201710620096.5 | 申请日: | 2017-07-26 |
公开(公告)号: | CN109306468B | 公开(公告)日: | 2020-10-16 |
发明(设计)人: | 肖德元 | 申请(专利权)人: | 上海新昇半导体科技有限公司 |
主分类号: | C23C16/455 | 分类号: | C23C16/455;C23C16/458;C30B25/12;C30B25/14 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 余昌昊 |
地址: | 201306 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种衬托器、一种气相生长装置及一种气相生长方法,所述衬托器用于所述气相生长装置,所述衬托器包括一底部和包围所述底部的侧部,所述底部和侧部限定有用以载置基底(例如半导体晶片)的凹坑,在所述衬托器的底部形成有顶杆孔,并且,所述衬托器还形成有一开口以及位于其底部的空心通道,所述开口通过所述空心通道与至少一个顶杆孔连通。使用本发明提供的气相生长方法,在气相生长过程中,由所述开口向所述空心通道内通入吹扫气体,吹扫气体流动到顶杆孔内,对位于顶杆孔下方的工艺气体具有阻挡作用,从而减少或避免工艺气体流动到基底的背面导致不必要的沉积。 | ||
搜索关键词: | 衬托 相生 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种衬托器,所述衬托器包括一底部和包围所述底部的侧部,所述底部和侧部限定有用以载置一基底的凹坑,所述衬托器上形成有多个贯穿所述底部的顶杆孔,其特征在于,所述衬托器上还形成有一开口以及空心通道,所述开口通过空心通道与至少一个顶杆孔连通。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海新昇半导体科技有限公司,未经上海新昇半导体科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710620096.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:气相生长装置及气相生长方法
- 下一篇:通过使用负偏压的PEALD沉积膜的方法
- 同类专利
- 专利分类
C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的