[发明专利]光纤光栅时延谱的测量装置和测量方法

摘要

一种光纤光栅时延谱的测量装置和测量方法。测量装置包括一个时延测量环路和系统时延控制环路。时延测量环路的关键是将光纤光栅产生的光真时延转换为伪随机噪声码测距。系统时延控制环路的关键是利用主动控制环路精确的消除测量死区。本发明具有测量精度高、适用面广、硬件简单和算法高效的优点，并且解决了传统微波信号测量的整数模糊问题。本发明可以用于光纤光栅谱型测量、超快激光器时延参数测量、微波光子学多波束系统中时延测量等领域。

主权项

1.一种光纤光栅时延谱的测量装置，其特征在于：该装置包括时延测量环路和系统时延控制环路：所述的时延测量环路，包括可调谐激光器(8)，沿所述的可调谐激光器(8)的输出光束方向依次是第一电光调制器(9)、波分复用器(5)、光纤(4)、波分解复用器(3)、环形器(2)、待测光纤光栅(1)、第一探测器(13)，该第一探测器(13)的输出端与伪码测距模块(12)的输入端相连；本地时钟信号(10)的输出分两路：一路直接与所述的伪码测距模块(12)的第二输入端相连，另一路经本地伪码产生器(11)与所述的伪码测距模块(12)的第三输入端相连，所述的本地伪码产生器(11)的输出端还与第一电光调制器(9)的第二输入端相连；所述的系统时延控制环路包括固定波长激光器(7)，沿所述的固定波长激光器(7)的输出光束方向依次是第二电光调制器(6)、波分复用器(5)、光纤(4)、波分解复用器(3)、第二探测器(14)；所述的第二探测器(14)的输出端与混频器(15)的第一输入端连接，本地时钟信号(18)经锁相环(17)后分成两路：一路与所述的混频器(15)的第二输入端相连，所述的混频器(15)的输出端经比例积分控制器(16)连接所述的光纤(4)，另一路与所述的第二电光调制器(6)的第二输入端相连。