[发明专利]LED光源产品电特性参数多工位单参数智能并发测试装置及方法

摘要

本发明公开了一种LED光源产品电特性参数多工位单参数智能并发测试装置及方法，所述装置包括：上位机、电参数测量模块、工位切换控制器模块和电源模块；所述上位机分别与电参数测量模块、工位切换控制器模块和电源模块进行通讯并控制；电参数测量模块，实时测量LED的电参数，并将所述电参数传到上位机进行处理、存储与分析；工位切换控制器模块，与被测多工位LED相连接，并对接入的多工位LED进行电路切换，使被测LED分时接通电源模块与电参数测量模块；电源模块，根据测试需要输出不同的电流或电压。本发明在保证LED光源产品电特性参数测试完全按照标准进行测试的前提，通过智能算法进行调度，实现了多工位的并发测试，极大节省了检测时间，提高了检测效率。

主权项

1.LED光源产品电特性参数多工位单参数智能并发测试方法，其特征在于，所述测试方法包括以下步骤：步骤A、选择LED测试工位，输入LED电参数测试过程中所需参数；步骤B、建立测试项目集、测试时间集、等待时间集、完成时间集、测试路径集及测试总时间，并建立测试路径最优化模型；步骤C、利用模拟退火算法，找出总测试时间最短的最优化测试路径；步骤D、根据最优测试路径，依次对各个工位的LED进行电参数测试；所述步骤B中：设步骤A中需要测试的LED总工位数为N_l，电参数测试流程需对LED进行N_e次通电测试，总测试任务数N＝N_l×N_e，则测试项目集、测试时间集、等待时间集、测试路径集分别为：测试项目集为Test[N]：每个LED的一次不间断通电为一次测试项目，Test[(n_l‑1)N_e+1]～Test[n_l×N_e]代表第n_l个LED的次通电测试N_e测试项目，其中，n_l＝1，2，…，N_l，即N_e次通电测试；测试时间集T_t[N]：T_t[n]存放测试项目Test[n]所需的测试时间；等待时间集T_w[N]：LED的N_e次通电测试中，每两次测试之间需要一定等待时间，即T_w[n]为Test[n]与Test[n‑1]之间的等待时间，n∈[(n_l‑1)×N_e+2,n_l×N_e]，n_l＝1，2，…，N_l；完成时间集T_f[N]：存放Test[n]的完成时间，初始化T_f[n]＝0，n＝1，2，…，N；测试路径集P[N]：P[n]＝i表示Test[n]在总测试项目集里第i个执行，初始化时，P[N]＝{1，2，3，4，5，6，7，…，N}；所述第n_l个LED的N_e次通电测试有一定的通电次序，即Test[(n_l‑1)×N_e+1]～Test[n_l×N_e]有一定的执行顺序，则在测试路径上表现为，P[n]＞P[n‑1]，n∈[(n_l‑1)×N_e+2,n_l×N_e]，n_l＝1，2，…，N_l。