[发明专利]可变电阻存储器件有效

专利信息
申请号: 201710631798.3 申请日: 2017-07-28
公开(公告)号: CN107665947B 公开(公告)日: 2022-06-21
发明(设计)人: 崔雪;堀井秀树;安东浩;朴盛健;成东俊;梁民圭;李政武 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00;H01L27/24
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 张波
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开涉及可变电阻存储器件。一种可变电阻存储器件可以包括:第一电极层;在第一电极层上的选择器件层,该选择器件层包括基本上由锗(Ge)、硒(Se)和锑(Sb)组成的硫属元素化物开关材料,其中基于原子百分比,Ge的含量小于Se的含量;在选择器件层上的第二电极层;在第二电极层上的可变电阻层,可变电阻层包括硫属元素化物材料;以及在可变电阻层上的第三电极层。
搜索关键词: 可变 电阻 存储 器件
【主权项】:
一种可变电阻存储器件,包括:第一电极层;在所述第一电极层上的选择器件层,所述选择器件层包括基本上由锗(Ge)、硒(Se)和锑(Sb)组成的硫属元素化物开关材料,其中基于原子百分比,Ge的含量小于Se的含量;在所述选择器件层上的第二电极层;在所述第二电极层上的可变电阻层,所述可变电阻层包括硫属元素化物材料;以及在所述可变电阻层上的第三电极层。
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