[发明专利]一种电位器的校准检测电路及方法在审

专利信息
申请号: 201710636543.6 申请日: 2017-07-31
公开(公告)号: CN107643503A 公开(公告)日: 2018-01-30
发明(设计)人: 苏旭岩;俞彬;梁展鸿 申请(专利权)人: 惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司
主分类号: G01R35/02 分类号: G01R35/02
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司44202 代理人: 温旭
地址: 516006 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及电位器领域,公开了一种电位器的校准检测电路,其特征在于,所述电位器的第一端连接第一电容的一端,所述第一电容的另一端分别连接所述电位器的第二端和MCU第一电压探测端,所述电位器的第三端分别连接电源和第一电阻的一端,所述第一电阻的另一端分别连接第二电阻的一端、第二电容的一端和MCU第二电压探测端,所述第二电阻的另一端连接所述第二电容的另一端。采用该技术方案具有成本低,开发周期短,可靠性高等优点。
搜索关键词: 一种 电位器 校准 检测 电路 方法
【主权项】:
一种电位器的校准检测电路,其特征在于,所述电位器的第一端连接第一电容的一端,所述第一电容的另一端分别连接所述电位器的第二端和MCU第一电压探测端,所述电位器的第三端分别连接电源和第一电阻的一端,所述第一电阻的另一端分别连接第二电阻的一端、第二电容的一端和MCU第二电压探测端,所述第二电阻的另一端连接所述第二电容的另一端。
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