[发明专利]锡锗硫硒化物薄膜及其制备方法、光电转换器件有效

专利信息
申请号: 201710637683.5 申请日: 2017-07-31
公开(公告)号: CN107364836B 公开(公告)日: 2020-07-31
发明(设计)人: 罗文俊;温鑫;刘建国;吴聪萍;邹志刚 申请(专利权)人: 南京大学;南京大学昆山创新研究院
主分类号: C01B19/00 分类号: C01B19/00;H01L31/032
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 向妮
地址: 210093 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明通过同时增加Ge含量和硫硒分压制备高质量锡锗硫硒化物薄膜,其中,Ge含量为锡锗硫硒化物(M1x1M2x2Sn1‑xGexS1‑ySey)(M1为Cu、Ag中的一种或者两种任意比例混合,M2为Zn、Cd中的一种或者两种任意比例混合,0≤x1≤1,0≤x2≤1,0x≤1,0≤y≤1)中Ge与Sn的相对比例(Ge/(Ge+Sn)),硫硒分压为硫硒化处理过程中单质S蒸汽、单质Se蒸汽、H2S气体或H2Se气体的分压。通过同时增加Ge含量和硫硒分压使锡锗硫硒化物薄膜的光电性能大幅提升,此方法操作简单且具有通用性,制备出的高质量锡锗硫硒化物薄膜能够应用于太阳能电池,光解水电池和光电探测器等光电器件中。
搜索关键词: 锡锗硫硒化物 薄膜 及其 制备 方法 光电 转换 器件
【主权项】:
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