[发明专利]一种双时域动态变频测试方法有效
| 申请号： | 201710641641.9 | 申请日： | 2017-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN107329073B | 公开（公告）日： | 2019-11-26 |
| 发明（设计）人： | 武建宏 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/303 |
| 代理公司： | 31237 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 智云<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
| 地址： | 201203 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提出一种双时域动态变频测试方法，包括下列步骤：在ATE上采用低速的参考频率，作为通信用频率；在ATE上通过BIST电路对芯片内部的PLL电路进行设置，产生并获取高频信号；通过计算获得外部时钟与内部高速时钟的同步等待时间，以及内部高速指令运行的次数；当内外部时钟域同步后即可检测到当前内部高速时钟域指令运行的结果；通过在外部时钟域不断变更PLL设定，实现对内部高速时域的变频，直到检测到最大极限频率。本发明提出的双时域动态变频测试方法，实现高速芯片变频运行下，采用外围低速ATE对其性能的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 时域 动态 变频 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种双时域动态变频测试方法，其特征在于，包括下列步骤：/n在ATE上采用低速的参考频率，作为通信用频率；/n在ATE上通过BIST电路对芯片内部的PLL电路进行设置，产生并获取高频信号；/n通过计算获得外部时钟与内部高速时钟的同步等待时间，以及内部高速指令运行的次数，根据获取的内部频率以及内部运行指令的时钟数，与外部低速参考频率计算出最小公倍数，并根据所述公倍数获得外部时钟与内部高速时钟的同步等待时间，以及内部高速指令运行的次数；/n当内外部时钟域同步后即可检测到当前内部高速时钟域指令运行的结果；/n通过在外部时钟域不断变更PLL设定，实现对内部高速时域的变频，直到检测到最大极限频率。/n
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