[发明专利]一种3D Nand Flash扫描检测方法和系统有效
| 申请号： | 201710641935.1 | 申请日： | 2017-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN107481764B | 公开（公告）日： | 2020-06-12 |
| 发明（设计）人： | 龙承东 | 申请（专利权）人： | 深圳芯邦科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/32 | 分类号： | G11C29/32;G11C29/44 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 唐致明 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种3D Nand Flash扫描检测方法和系统，该方法包括：按一定比例随机选取存储块进行数据错码测试，基于测试结果获取损坏page分布和损坏block分布，分别标记其为page模板和block模板；根据预设的分组参数依次分组存储块，基于page模板或/和block模板扫描对应的page或/和block，如果不存在损坏的page或block，则标记该组存储块为正常块，如果存在损坏的page或block，则对该分组的存储块进行全面扫描；扫描全部分组并生成坏块表。该系统用于执行对应方法。本发明通过对局部存储块进行测试以获取不良分布，基于不良分布检测分组的存储块，根据检测结果判断存储块的好坏程度，能够快速实现对存储块的检测，有利于提高生成效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 nand flash 扫描 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种3D Nand Flash扫描检测方法，其特征在于，包括：按一定比例随机选取存储块进行数据错码测试，基于测试结果获取损坏page分布和损坏block分布，分别标记其为page模板和block模板；根据预设的分组参数依次分组存储块，基于page模板或/和block模板扫描对应的page或/和block，如果不存在损坏的page或block，则标记该组存储块为正常块，如果存在损坏的page或block，则对该分组的存储块进行全面扫描；扫描全部分组并生成坏块表。
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