[发明专利]一种检测椭圆曲线算法漏洞的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201710647556.3 申请日: 2017-08-01
公开(公告)号: CN107204856B 公开(公告)日: 2019-10-22
发明(设计)人: 李增局;史汝辉;李文宝;张策;李海滨;陈百顺;王洋;安焘;黄天宁;蒋晓 申请(专利权)人: 北京智慧云测科技有限公司;北京智慧云测信息技术有限公司
主分类号: H04L9/32 分类号: H04L9/32;H04L9/30;H04L9/00
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 郭俊霞
地址: 102308 北京市门头*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种检测椭圆曲线算法漏洞的方法及装置,其中,该方法包括:获取基于椭圆曲线算法的芯片在执行数字签名时的能量消耗曲线,该能量消耗曲线指的是芯片的能量随时间的变化曲线;根据上述能量消耗曲线上的能量变化特征,从能量消耗曲线上确定上述芯片在执行数字签名时非相邻表示型NAF变换对应的待处理能量消耗曲线;根据待处理能量消耗曲线及预先建立的能量消耗特征数据库,检测椭圆曲线是否存在漏洞。本发明中,通过芯片在执行数字签名时的能量曲线,检测椭圆曲线在NAF变换部分是否存在安全漏洞,以便厂商及时对该安全漏洞进行修复,进一步提高椭圆曲线算法的安全性。
搜索关键词: 一种 检测 椭圆 曲线 算法 漏洞 方法 装置
【主权项】:
1.一种检测椭圆曲线算法漏洞的方法,其特征在于,所述方法包括:获取基于椭圆曲线算法的芯片在执行数字签名时的能量消耗曲线,所述能量消耗曲线表征所述芯片消耗的能量与时间之间的关系;根据所述能量消耗曲线上的能量变化特征,从所述能量消耗曲线上确定所述芯片在执行所述数字签名时非相邻表示型NAF变换对应的待处理能量消耗曲线;根据所述待处理能量消耗曲线及预先建立的能量消耗特征数据库,检测所述椭圆曲线算法是否存在漏洞;其中,所述根据所述待处理能量消耗曲线及预先建立的能量消耗特征数据库,检测所述椭圆曲线算法是否存在漏洞,包括:从所述能量特征数据库中查找所述芯片对应的能量消耗特征;根据所述待处理能量消耗曲线及所述芯片对应的能量消耗特征,确定所述椭圆曲线算法中点乘运算的乘数;若确定出所述点乘运算的乘数,则确定所述椭圆曲线算法存在漏洞;其中,所述待处理能量消耗曲线包括多段子曲线,每段子曲线对应所述NAF变换的一个循环流程;所述芯片对应的能量消耗特征包括不同的NAF循环流程对应的执行时间及能量消耗特征;所述根据所述待处理能量消耗曲线及所述芯片对应的能量消耗特征,确定所述椭圆曲线算法中点乘运算的乘数,包括:抓取每段子曲线对应的时间长度及能量消耗信息,所述能量消耗信息包括预设时刻点对应的能量消耗值;根据每段子曲线对应的时间长度、能量消耗信息,以及不同的NAF循环流程的执行时间、能量消耗特征,确定每段子曲线对应的NAF循环流程的输出值;根据所述NAF循环流程的输出值,计算所述点乘运算的乘数;其中,所述根据所述能量消耗曲线上的能量变化特征,从所述能量消耗曲线上确定所述芯片在执行所述数字签名时非相邻表示型NAF变换对应的待处理能量消耗曲线,包括:将所述能量消耗曲线上发生能量突变的时刻点确定为所述NAF变换的开始时刻;将所述能量消耗曲线上,从所述开始时刻开始的曲线确定为所述待处理能量消耗曲线。
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