[发明专利]安全继电器测试装置及其测试方法

摘要

本发明提供了一种安全继电器测试装置及其测试方法，其中，该安全继电器测试装置包括MCU控制器、继电器触点测试模块、继电器线圈测试模块、电源保护控制单元、按键输入电路；进行测试时，通过所述MCU控制器控制所述线圈电阻测量及卡滞测试切换电路进行线圈电阻测量和卡滞测试切换；进行线圈电阻及触点电阻测量时，所述MCU控制器根据所述线圈电阻和所述触点电阻绘制继电器的动作特性图；进行卡滞测试时，通过所述按键输入电路输入设定线圈供电电压、测试次数、测试吸合时间和测试间隔时间。本发明设计科学、实用性强、能够进行安全继电器测试装置的自动测试和重复测试。

主权项

一种安全继电器测试装置，其特征在于：包括MCU控制器、继电器触点测试模块、继电器线圈测试模块、电源保护控制单元、按键输入电路；所述电源包括控制单元包括电源输入保护控制电路、DC‑DC降压电路、DC‑DC数控升压模块，所述电源输入保护控制电路的输入端连接市电；所述DC‑DC数控升压模块依次经第一电源保护隔离电路和第一AC‑DC开关电源接至所述电源输入保护控制电路的输出端，用于提供12V‑120V电压；所述DC‑DC降压电路依次经第二电源保护隔离电路和第二AC‑DC开关电源接至所述电源输入保护控制电路的输出端，用于提供12V‑5V电压；所述继电器触点测试模块包括继电器触点测量板卡和第一ADC采集电路，所述继电器触点测量板卡以四线制测量方式连接待测继电器的触点，并通过所述第一ADC采集电路连接所述MCU控制器；所述继电器线圈测试模块包括线圈电阻测量/卡滞测试切换电路、线圈电阻测量板卡和第二ADC采集电路；所述线圈电阻测量/卡滞测试切换电路，以四线制测量方式连接待测继电器线圈，连接所述线圈电阻测量板卡，还依次通过电压电流采集电路、电子开关接至所述DC‑DC数控升压模块；所述电子开关通过IO隔离驱动电路连接所述MCU控制器；所述MCU控制器，通过所述第二ADC采集电路连接所述电压电流采集电路和所述线圈电阻测量板卡，通过所述切换开关状态反馈电路连接所述线圈电阻测量/卡滞测试切换电路；所述按键输入电路连接所述MCU控制器，用以设置测试参数。