[发明专利]一种基于激发发射光谱分离同时测量受体-供体量子产额之比与消光系数之比的方法

摘要

本发明公开一种基于激发发射光谱分离同时测量受体‑供体量子产额之比与消光系数之比的方法，属于FRET检测技术领域。该方法包括如下步骤：测量2种或2种以上受体个数与供体个数比值相同且FRET效率不同的供体‑受体串联样本的激发发射光谱S_DA[i]，并将S_DA[i]按照三个激发发射光谱基矢进行线性分离得到三个权重因子W_D[i]，W_A[i]和W_S[i]；以W_A/W_D为自变量，W_S/W_D为因变量，线性拟合W_A[i]/W_D[i]、W_S[i]/W_D[i]，线性方程的斜率与n_A/n_D的乘积的倒数为K_A/K_D，截距的绝对值为Q_A/Q_D。本发明测量过程简单、测量时间短、测量结果稳定并且适用于不同的检测系统。

主权项

1.一种基于激发发射光谱分离同时测量受体‑供体量子产额之比与受体‑供体消光系数之比的方法，其特征在于包括以下步骤：(1)测量2种或2种以上受体个数与供体个数比值相同且FRET效率不同的供体‑受体串联样本的激发发射光谱S_DA[i]，并将S_DA[i]按照三个激发发射光谱基矢进行线性分离得到三个权重因子W_D[i]，W_A[i]和W_S[i]；其中下标i表示第i种供体‑受体串联样本，i≥2；所述的三个激发发射光谱基矢分别为供体的激发发射光谱基矢S_D、受体的激发发射光谱基矢S_A、供受体敏化的激发发射光谱基矢S_S；所述的W_D[i]为供体激发发射光谱所占权重，W_A[i]为受体激发发射光谱所占权重，W_S[i]为供受体敏化激发发射光谱所占权重；(2)根据步骤(1)得到的W_D[i]、W_A[i]和W_S[i]计算W_A[i]/W_D[i]和W_S[i]/W_D[i]的值；(3)以W_A/W_D为自变量，W_S/W_D为因变量，线性拟合步骤(2)中得到的W_A[i]/W_D[i]、W_S[i]/W_D[i]；线性方程的斜率与n_A/n_D的乘积的倒数即为K_A/K_D，线性方程的截距的绝对值即为Q_A/Q_D；所述的n_A/n_D表示受体个数与供体个数比值；所述的K_A/K_D表示受体‑供体消光系数之比；所述的Q_A/Q_D表示受体‑供体量子产额之比。