[发明专利]一种低反射率外腔光纤F-P干涉型传感器的解调系统

摘要

本发明公开的一种相低反射率外腔光纤F‑P干涉型传感器的解调系统，旨在提供一种解调结果精确，计算量小、成本低的F‑P外腔光纤F‑P干涉型传感器的解调系统。本发明通过如下技术方案实现：在解调器中，根据F‑P滤波器的电压‑中心波长函数，推导出F‑P滤波器扫描校正函数，再通DDS按校正函数输出扫描信号，F‑P滤波器根据校正后的函数输出窄带扫描光，窄带扫描光通过耦合器同时扫描EFPI传感器和参考F‑P标准具，参考F‑P标准具将采样得到的线性化光谱按反余弦进行相位展开，在‑π、π处进行相位拼接，拼接成相位直线后进行线性拟合，通过斜率计算出EFPI传感器的腔长，实现低反射率FP传感器的解调。

主权项

1.一种相位展开解调低反射率F‑P传感器的方法，其特征在于包括如下步骤：首先，将半导体光放大器SOA（1）、光隔离器（2）、耦合器（4）和F‑P滤波器（5）顺次串联组成闭环回路，并在耦合器（4）两端连接EFPI传感器（3），光电三极管PD（6），F‑P滤波器（5）通过数模转换器DA（7）串联数字频率合成器DDS（8）组成解调器；在解调器中，根据F‑P滤波器（5）的电压‑中心波长函数，推导出F‑P滤波器（5）扫描校正函数，再通过数字频率合成器DDS（8）按校正函数输出扫描信号，F‑P滤波器（5）根据校正后的函数输出窄带扫描光，窄带扫描光通过耦合器（4）同时扫描EFPI传感器（3）和参考F‑P标准具，参考F‑P标准具将采样得到的线性化光谱按反余弦进行相位展开，在‑π、π处进行相位拼接，拼接成相位直线后进行线性拟合，通过斜率计算出EFPI传感器的腔长，采用线性度光谱对F‑P滤波器（5）推导出的扫描光校正函数进行修正。