[发明专利]一种环形光束共聚焦纵向高分辨成像装置

摘要

本发明涉及一种环形共聚焦纵向高分辨成像装置，属于光学技术领域。本发明所述成像装置主要是利用圆锥透镜产生同轴贝塞尔环形光束，再经过共聚焦系统照射到被测物体上，不同半径的的环形光束会在被测物体上产生不同光学纵深的焦点，从而实现在不同深度对被测物体进行高分辨测量的目的；所述成像装置适用于透明样品横向和纵向的空间分辨观测，而且纵向分辨率可以达到亚微米级，该成像装置可以作为原有光学检测手段的拓展性应用，它将促进生物样品的空间分辨研究，以及材料内部结构的研究。

主权项

一种环形光束共聚焦纵向高分辨成像装置，其特征在于：所述成像装置包括激光光源(1)、透镜组A(2)、圆锥透镜(3)、环形光阑(4)、反射镜Ⅰ(5)、分光片(6)、透镜组B(7)、针孔(9)、反射镜Ⅱ(10)、物镜(11)、透镜组C(8)、凸透镜(12)以及图像传感器(13)；所述针孔(9)分别置于透镜组B(7)和透镜组C(8)中；激光光源(1)产生的激光经过透镜组A(2)扩束后形成平行光，平行光经过圆锥透镜(3)后形成不同半径的同轴环形光束，不同半径的同轴环形光束经过环形光阑(4)过滤后得到特定半径的环形光束，特定半径的环形光束分别经过反射镜Ⅰ(5)、分光片(6)、反射镜Ⅱ(10)的反射以及透镜组B(7)和物镜(11)的聚焦后形成环形光锥，环形光锥穿过待测物体的表面且经过待测物体的作用后形成散射光，散射光再依次经过物镜(11)、反射镜Ⅱ(10)、透镜组B(7)、分光片(6)、透镜组C(8)、凸透镜(12)后传送给图像传感器(13)，对图像传感器(13)所收集的信息进行分析得到与该特定半径对应的穿透深度的激光光谱信息；调整环形光阑(4)中环形狭缝的内半径，重复测试，得到不同穿透深度的激光光谱信息。