[发明专利]一种工业控制系统序列攻击检测方法及设备有效
| 申请号： | 201710667223.7 | 申请日： | 2017-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN107491058B | 公开（公告）日： | 2019-07-09 |
| 发明（设计）人： | 孙利民;杨安;王小山;石志强;孙玉砚 | 申请（专利权）人： | 中国科学院信息工程研究所 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹;吴欢燕 |
| 地址： | 100093 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供的一种工业控制系统序列攻击检测方法及设备，其中所述方法包括：S1，获取多个可编程逻辑控制器控制的传感器的多个观测量作为测试集，并依据预先由取值分类法获得的各观测值类型，获取所述测试集中的第一连续量子集和第一离散量子集；S2，基于所述第一离散量子集和所述第一连续量子集，利用训练生成的隐马尔科夫模型，得到各自对应的第一匹配概率和第二匹配概率；S3，基于所述第一匹配概率和所述第二匹配概率，结合离散量子集和连续量子集的权重，得到工业控制系统序列攻击的检测结果。本发明提供的方法在避免单个观测量被篡改后工业控制系统序列攻击检测失效的情况的同时，能够高效、准确地识别出工业控制系统的序列攻击。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 工业 控制系统 序列 攻击 检测 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种工业控制系统序列攻击检测方法，其特征在于，包括：S1，获取多个可编程逻辑控制器控制的传感器的多个观测量作为测试集，并依据预先由取值分类法获得的各观测量类型，获取所述测试集中的第一连续量子集和第一离散量子集；S2，基于所述第一离散量子集和所述第一连续量子集，利用训练生成的隐马尔科夫模型，得到各自对应的第一匹配概率和第二匹配概率；S3，基于所述第一匹配概率和所述第二匹配概率，结合离散量子集和连续量子集的权重，得到工业控制系统序列攻击的检测结果。
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