[发明专利]带有污染物分子印迹的铁-碳气凝胶电Fenton阴极及其制备有效

专利信息
申请号: 201710670687.3 申请日: 2017-08-08
公开(公告)号: CN107434270B 公开(公告)日: 2020-08-18
发明(设计)人: 王卿宁;赵红颖;赵国华 申请(专利权)人: 同济大学
主分类号: C02F1/28 分类号: C02F1/28;C02F1/461;C02F1/72
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 谭磊
地址: 200092 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及带有污染物分子印迹的铁‑碳气凝胶电Fenton阴极及其制备方法,该方法是将DMP分子印迹活性位点和纳米零价铁同时原位3D嵌入式生长到碳气凝胶矩阵中,后依次通过CO2和N2活化,即制得活化后带有污染物分子印迹的铁‑碳气凝胶电Fenton阴极,用于电吸附和催化氧化降解污染物的反应温度为25‑30℃,pH范围为5~7。与现有技术相比,本发明将分子印迹技术与电Fenton相结合,通过静电相互作用,亲疏水相互作用,π‑π相互作用和分子印迹特异性识别作用以及·OH的强氧化性,实现了电吸附与降解协同高效去除有机污染物,为处理难降解有机污染物提供了一种新的途径,工艺操作简单、节能且高效、易于循环使用,在实际的水处理领域具有非常广泛的应用前景。
搜索关键词: 带有 污染物 分子 印迹 凝胶 fenton 阴极 及其 制备
【主权项】:
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