[发明专利]集成电路批量检测装置

摘要

本发明提供了一种集成电路批量检测装置，所述集成电路批量检测装置包括控制模块、震动模块、红外热像采集模块、智能诊断模块、显示模块，其中震动模块的输入为控制模块输出的控制信息，使芯片开始震动，用于诱发芯片的虚焊潜在故障，从而在后续步骤中进一步筛除。本发明通过自动化、智能化手段实现集成电路批量故障检测，具有操作简便、检测效率高、检测精度高的特点。

主权项

一种集成电路批量检测装置，其特征在于，所述集成电路批量检测装置包括控制模块、震动模块、红外热像采集模块、智能诊断模块、显示模块，其中：震动模块的输入为控制模块输出的控制信息，使芯片开始震动，用于诱发芯片的虚焊潜在故障，从而在后续步骤中进一步筛除；红外热像采集模块的输入为控制模块输出的控制信息，用于采集芯片表面温度分布，生成红外热像图；智能诊断模块的输入为红外热像采集模块获得的红外热像图，使用卷积神经网络深度学习模型实现检测与自诊断；智能诊断模块包括训练模块和诊断模块；训练模块使用一定规模的训练集训练卷积神经网络，使网络符合检测精度要求；检测模块使用训练好的卷积神经网络对所输入的热像图进行分类，获得诊断结果；显示模块的输入为控制模块输出的控制信息，用于显示当前芯片组状态，当前检测阶段及该批次芯片故障率的信息；控制模块的输入为外部输入的控制信息、光学传感装置输入的控制信息、震动模块输入的控制信息，用于控制检测流程的运行：外部输入控制信息用于控制固定模块与传送模块的工作，光学传感装置输入控制信息用于控制震动模块的工作，震动模块输入控制信息用于控制红外热像采集模块的工作，智能诊断模块输入控制信息用于控制显示模块的工作。