[发明专利]一种相位校正方法、装置及磁共振系统有效
| 申请号： | 201710672602.5 | 申请日： | 2017-08-08 |
| 公开（公告）号： | CN107290700B | 公开（公告）日： | 2020-12-04 |
| 发明（设计）人： | 郭延恩;张仲奇 | 申请（专利权）人： | 上海联影医疗科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/565 | 分类号： | G01R33/565 |
| 代理公司： | 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 | 代理人： | 王刚;龚敏 |
| 地址： | 201807 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种相位校正方法、装置及磁共振系统，涉及医疗影像技术领域。一方面，本发明实施例提供的相位校正方法包括：首先，获取多个回波图像；然后，获取所述多个回波图像的像素点图像梯度；其次，根据所述像素点图像梯度，从所述多个回波图像中获取同质区域；并且，获取所述同质区域的像素点相位及幅值；从而根据所述像素点相位及幅值，并基于相位偏移的线性模型，确定所述线性模型参数，以确定相位偏移在复数域的第一线性模型；进而，根据所述在复数域的第一线性模型，校正所述多个回波图像的相位。因此，本发明实施例提供的技术方案能够在一定程度上减低了相位校正的复杂度，并且提高相位校正的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 相位 校正 方法 装置 磁共振 系统 | ||
【主权项】：
一种相位校正方法，其特征在于，所述方法包括：获取多个回波图像；获取所述多个回波图像的像素点图像梯度；根据所述像素点图像梯度，从所述多个回波图像中获取同质区域；获取所述同质区域的像素点相位及幅值；根据所述像素点相位及幅值，并基于相位偏移的线性模型，确定所述线性模型参数，以确定相位偏移在复数域的第一线性模型；根据所述在复数域的第一线性模型，校正所述多个回波图像的相位。
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