[发明专利]电子照相用构件、定影设备以及电子照相用带的制造方法

摘要

本发明涉及电子照相用构件、定影设备、以及电子照相用带的制造方法。提供一种具有优异的耐久性的环形带状的电子照相用构件。所述构件包括环形带状的基材和表面层，表面层包含四氟乙烯‑全氟烷基乙烯基醚共聚物(PFA)的电离性辐射线交联产物，表面层通过电子束对包含PFA的树脂层的照射来形成，表面层在200℃下的通用硬度HU为18N/mm2≤HU≤40N/mm2，和当在树脂层中PFA的沿与基材的圆周方向正交的方向的取向度定义为Ri，和在表面层中交联的PFA的沿与基材的圆周方向正交的方向的取向度定义为Rf时，Ri和Rf满足由式(1)表示的关系：Ri×0.8≤Rf≤Ri (1)。

主权项

一种环形带状的电子照相用构件，其包括：环形带状的基材；和在所述基材的外周面上的表面层，其特征在于，所述表面层包含四氟乙烯‑全氟烷基乙烯基醚共聚物的电离性辐射线交联产物，所述表面层通过电子束对设置在所述基材上的树脂层的照射来形成，所述树脂层包含所述四氟乙烯‑全氟烷基乙烯基醚共聚物，所述表面层在200℃下的通用硬度HU为18N/mm2≤HU≤40N/mm2，和当所述树脂层中的所述四氟乙烯‑全氟烷基乙烯基醚共聚物的沿与所述基材的圆周方向正交的方向的取向度定义为Ri，和在所述表面层中的所述四氟乙烯‑全氟烷基乙烯基醚共聚物的交联产物的沿与所述基材的圆周方向正交的方向的取向度定义为Rf时，Ri和Rf满足由式(1)表示的关系：Ri×0.8≤Rf≤Ri   (1)其中，Ri由式(2)表示：Ri＝AR0/AR90   (2)其中，当在所述树脂层的红外光谱测量中沿与所述基材的圆周方向正交的方向的偏振光谱中，640cm‑1处的吸收峰值定义为Abs640r0和993cm‑1处的吸收峰值定义为Abs993r0时，AR0由式(3)表示：AR0＝Abs640r0/Abs993r0   (3)和当在所述树脂层的红外光谱测量中沿所述基材的圆周方向的偏振光谱中，640cm‑1处的吸收峰值定义为Abs640r90和993cm‑1处的吸收峰值定义为Abs993r90时，AR90由式(4)表示：AR90＝Abs640r90/Abs993r90   (4)和Rf由式(5)表示：Rf＝AS0/AS90   (5)其中，当在所述表面层的红外光谱测量中沿与所述基材的圆周方向正交的方向的偏振光谱中，640cm‑1处的吸收峰值定义为Abs640s0和993cm‑1处的吸收峰值定义为Abs993s0时，AS0由式(6)表示：AS0＝Abs640s0/Abs993s0   (6)，和当在所述表面层的红外光谱测量中沿所述基材的圆周方向的偏振光谱中，640cm‑1处的吸收峰值定义为Abs640s90和993cm‑1处的吸收峰值定义为Abs993s90时，AS90由式(7)表示：AS90＝Abs640s90/Abs993s90   (7)。