[发明专利]一种球面近场天线测量方法及系统有效
| 申请号： | 201710676154.6 | 申请日： | 2017-08-09 |
| 公开（公告）号： | CN107632208B | 公开（公告）日： | 2019-12-24 |
| 发明（设计）人： | 袁浩波;侯建强;吴征国 | 申请（专利权）人： | 西安电子科技大学 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 11570 北京众达德权知识产权代理有限公司 | 代理人： | 刘杰 |
| 地址： | 710071*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明属于微波测量技术领域，公开了一种球面近场天线测量方法，包括：向待测天线提供测量用信号；分别通过无人飞行设备搭载磁场测量设备在半径为a的第一球面上测量第一磁场值以及在半径为b的第二球面上测量第二磁场值；基于所述第一磁场值和所述第二磁场值，通过球面近远场变换算法得到球面波展开系数；依据所述球面波展开系数获取天线参数；其中，b大于a。本发明提供一种适应各类大规格天线或者天线阵测量的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 球面 近场 天线 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种球面近场天线测量方法，其特征在于，包括：/n向待测天线提供测量用信号；/n分别通过无人飞行设备搭载磁场测量设备在半径为a的第一球面上测量第一磁场值以及在半径为b的第二球面上测量第二磁场值；/n基于所述第一磁场值和所述第二磁场值，通过球面近远场变换算法得到球面波展开系数；/n依据所述球面波展开系数获取天线参数；/n其中，b大于a；天线参数包括：远场方向图；/n所述第一磁场值包括：第一球面上的多个采样测量点处的磁场值；所述第二磁场值包括：第二球面上的多个采样测量点处的磁场值；/n所述第一磁场值和所述第二磁场值包括：三维坐标系
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