[发明专利]复合电流扩展层及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201710676698.2 申请日: 2017-08-09
公开(公告)号: CN107492570B 公开(公告)日: 2020-06-02
发明(设计)人: 孟锡俊;张翼;陈勘 申请(专利权)人: 西安中为光电科技有限公司
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L29/06;H01L21/335
代理公司: 成都市鼎宏恒业知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 51248 代理人: 罗韬
地址: 710000 陕西省西安*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种复合电流扩展层及其制作方法,属一种电流扩展层的制作方法,所述电流扩展层包括由下至上设置的底层隔离层、GaN电流扩展层、异质结隔离层与AlGaN势垒层;通过多层复合而成的电流扩展层,异质结高迁移率二维电子或空穴气电流扩展层,利用该高迁移率的二维电子或空穴气层,可将电流更加有效的扩展开,消除电流拥堵严重的问题,提高芯片可靠性,降低芯片的Droop效应;同时本发明所提供的一种复合电流扩展层结构简单,适于在各类芯片上生长使用,应用范围广阔。
搜索关键词: 复合 电流 扩展 及其 制作方法
【主权项】:
一种复合电流扩展层,其特征在于所述电流扩展层包括由下至上设置的底层隔离层、GaN电流扩展层、异质结隔离层与AlGaN势垒层,其中:所述底层隔离层与异质结隔离层均为AlxGa1‑xN材料,其中x的值为50%至100%,且所述底层隔离层与异质结隔离层的厚度均小于或等于2nm;所述GaN电流扩展层为无掺杂GaN材料,且所述GaN电流扩展层的厚度为10nm至200nm;所述AlGaN势垒层为n型掺杂的AlxGa1‑xN材料,其中X值为2%至30%,厚度为10nm至100nm。
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