[发明专利]NOR型闪存的擦除方法及装置有效
申请号: | 201710681520.7 | 申请日: | 2017-08-10 |
公开(公告)号: | CN109390016B | 公开(公告)日: | 2021-05-07 |
发明(设计)人: | 张赛;刘晓庆 | 申请(专利权)人: | 北京兆易创新科技股份有限公司;合肥格易集成电路有限公司 |
主分类号: | G11C16/14 | 分类号: | G11C16/14;G11C16/34 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 100083 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明实施例提供了一种NOR型闪存的擦除方法及装置,包括:对存储单元进行过擦除验证;对未通过所述过擦除验证的存储单元进行至少一次编程操作,并记录所述编程操作的次数;对所述进行至少一次编程操作且通过所述过擦除验证的存储单元进行擦除验证;根据所述编程操作的次数确定擦除脉冲信号,根据所述擦除脉冲信号,指示增加或减少进行擦除操作的预设擦除时间,并对未通过所述擦除验证的存储单元进行所述擦除操作。本发明实施例提供了一种NOR型闪存的擦除方法及装置,通过记录当前过擦除验证失败之后,对存储单元的编程次数来自动调整擦除时间的长短,从而减小了擦除时间,大大提高了NOR型闪存的运行速度。 | ||
搜索关键词: | nor 闪存 擦除 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种NOR型闪存的擦除方法,其特征在于,包括:对存储单元进行过擦除验证;对未通过所述过擦除验证的存储单元进行至少一次编程操作,并记录所述编程操作的次数;对所述进行至少一次编程操作且通过所述过擦除验证的存储单元进行擦除验证;根据所述编程操作的次数确定擦除脉冲信号,根据所述擦除脉冲信号,指示增加或减少进行擦除操作的预设擦除时间,并对未通过所述擦除验证的存储单元进行所述擦除操作。
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