[发明专利]单幅X射线微分相衬图像探测系统有效

专利信息
申请号: 201710682198.X 申请日: 2017-08-10
公开(公告)号: CN107621473B 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 刘鑫;王翔;黄建衡;雷耀虎;郭金川;李冀 申请(专利权)人: 深圳大学
主分类号: G01N23/041 分类号: G01N23/041;G01N23/18;G01N23/083
代理公司: 深圳市瑞方达知识产权事务所(普通合伙) 44314 代理人: 张秋红;张约宗
地址: 518060 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种单幅X射线微分相衬图像探测系统,按X射线传播方向依次设置有X射线转换屏、耦合装置和可见光探测器,所述X射线转换屏为像素化转换屏,像素单元排布与成像系统的X射线干涉条纹周期配合;或是按X射线传播方向依次设置有吸收光栅、X射线转换屏和可见光探测器,所述吸收光栅在行方向和列方向上通过多个周期单元排布形成,周期单元为矩形,周期单元宽度和成像系统的X射线干涉条纹周期宽度相同。本发明无需物体多次曝光并移动相位光栅,简化了X射线微分相衬成像的相位获取流程,能够实现快速X射线相位衬度成像,从而提高成像效率。
搜索关键词: 单幅 射线 微分 图像 探测 系统
【主权项】:
一种单幅X射线微分相衬图像探测系统,按X射线传播方向依次设置有X射线转换屏、耦合装置和可见光探测器,其特征在于,所述X射线转换屏为像素化转换屏,所述像素化转换屏包括多个像素单元,像素单元排布与成像系统的X射线干涉条纹周期配合。
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