[发明专利]基于电化学无损检测装置的金属表面缺陷检测方法在审

专利信息
申请号: 201710682383.9 申请日: 2015-02-25
公开(公告)号: CN107389753A 公开(公告)日: 2017-11-24
发明(设计)人: 高志明;刘晓玉;胡文彬;夏大海;修妍;刘永长 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01N27/26 分类号: G01N27/26
代理公司: 天津创智天诚知识产权代理事务所(普通合伙)12214 代理人: 王秀奎
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开基于电化学无损检测装置的金属表面缺陷检测方法,此方法根据待测试样材料和表面形状,选取合适的传感电极束、参比电极,采用具有零电阻电路的装置采集电位信号,利用Origin软件处理得到金属表面直观的电位分布图,利用电化学知识分析电位分布图确认阴阳极区,推断金属表面各区域的腐蚀情况,进而确定缺陷的位置和形状。与传统的无损检测金属表面缺陷的方法相比,此方法为电化学手段,更加直观清晰,操作简单、测量精度高、准确性高,而且不受表面形状限制,能弥补其他物理检测手段的不足。
搜索关键词: 基于 电化学 无损 检测 装置 金属表面 缺陷 方法
【主权项】:
基于电化学无损检测装置的金属表面缺陷检测方法,其特征在于,电化学无损检测装置包括待测金属试样,离子导通膜,参比电极,多通道电极探头以及电化学测量装置,所述多通道电极探头设置在所述待测金属试样的上表面,所述多通道电极探头由酚醛树脂和金属电极棒组成,所述金属电极棒呈M行N列等距的分布在所述酚醛树脂中,所述M大于等于5小于等于20,所述N大于等于5小于等于20,且在所述多通道电极探头的底端和所述待测金属试样的上表面之间设置有所述离子导通膜,所述离子导通膜分别与所述多通道电极探头的底端和所述待测金属试样的上表面紧密接触,所述参比电极设置在所述待测金属试样的上方且与所述离子导通膜紧密接触,所述多通道电极探头的顶端、所述参比电极和所述待测金属试样的底面分别通过导线与所述电化学测量装置的工作端、标定参比电极端和接地端相连,所述电化学测量装置内设置有运算放大器或者零电阻电路;按照下述步骤进行:步骤1:将浸有电解质溶液的离子导通膜置于由酚醛树脂和金属电极棒组成的多通道电极探头与待测金属试样之间,所述离子导通膜分别与所述多通道电极探头的底端和所述待测金属试样的上表面紧密接触,所述金属电极棒通过所述离子导通膜有序的排放在所述待测金属试样上表面,所述金属电极棒呈M行N列等距的分布在所述酚醛树脂中,所述M大于等于5小于等于20,所述N大于等于5小于等于20,参比电极表面处理备用;步骤2:所述参比电极与所述离子导通膜紧密接触,采用具有运算放大器或者零电阻电路的所述电化学测量装置采集电位信号,其中所述多通道电极探头与所述电化学测量装置工作端相连,所述参比电极与所述电化学测试装置内设置的参比电极端相连,且所述待测金属试样下表面与所述电化学测试装置接地端相连;通过电化学测量装置内嵌的单片机控制,使多通道电极探头的各个金属电极棒分别在不同时刻与电化学测量装置工作端接通并与待测金属试样成为等电位点,电化学测量装置通过参比电极依次采集电位信号,即为此时刻对应的,与待测金属试样表面成为等电位的金属电极棒所指向的待测金属试样表面位置的电位;步骤3:对采集的电位信号进行分析处理,输出电位分布图;在电位分布图中,每一根电极都对应着一个二维坐标,即电位分布图展现呈M行N列等距分布的金属电极棒阵列所对应的待测金属试样表面的电位分布,通过电位分布图坐标分辨电极电位低的坐标对应的待测金属试样表面的位置,即为试样表面缺陷。
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