[发明专利]一种N型AlGaN的生长方法有效
申请号: | 201710688681.9 | 申请日: | 2017-08-13 |
公开(公告)号: | CN107464862B | 公开(公告)日: | 2018-12-28 |
发明(设计)人: | 张康;陈志涛;赵维;何晨光;贺龙飞;吴华龙;刘宁炀;廖乾光 | 申请(专利权)人: | 广东省半导体产业技术研究院 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/12;H01L21/02 |
代理公司: | 广东世纪专利事务所有限公司 44216 | 代理人: | 刘卉 |
地址: | 510651 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种N型AlGaN的生长方法,采用直流磁控反应溅射设备和MOCVD设备制备并依次包括以下步骤:在蓝宝石图形化凸型衬底上溅射AlN buffer层,生长带插入层的GaN梯形台面层,生长带插入层的GaN梯形合并层,生长平坦的GaN 2D生长层,生长重掺杂的N型AlGaN生长层,在H2、NH3混合气氛下降温冷却。本发明采用梯形GaN生长方法,结合周期性类圆锥体图形的阻断作用,解决了在GaN模板内插入的AlN层易出现的大应力开裂现象,同时为后续AlGaN提前释放应力,解决了高质量重掺杂N型AlGaN的生长开裂问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 algan 生长 方法 | ||
【主权项】:
1.一种N型AlGaN的生长方法,其特征在于包括以下步骤:(1)在蓝宝石图形化凸型衬底上溅射AlN buffer层;所述蓝宝石图形化凸型衬底为周期性类圆锥体结构的衬底,图形周期为0.8~5um,类圆锥体高度为0.2~3um,类圆锥体底面直径为0.7~4.9um,且相邻两个类圆锥体之间的衬底部分为平面蓝宝石衬底;(2)在AlN buffer层上生长带插入层的GaN梯形台面层;所述AlN buffer层位于平面蓝宝石衬底上的部分为平面buffer层,所述GaN梯形台面层是在平面buffer层上生长形成,生长结束于台面高度等于类圆锥体高度;(3)在GaN梯形台面层上生长带插入层的GaN梯形合并层;(4)在GaN梯形合并层上生长重掺杂的N型AlGaN生长层;(5)在H2、NH3混合气氛下降温冷却。
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