[发明专利]校准质谱仪的方法

摘要

一种用于校准质谱仪的方法，该质谱仪包括离子源、作为第一四极杆的第一质量分析仪、第二质量分析仪和用以检测离子的检测构件。第一四极杆在选择具有过滤器窗口宽度w的质量过滤器窗口中的质量的质量选择模式中可操作为预选择质量分析仪，其中RF电压和DC电压施加到第一四极杆的电极，RF电压的振幅为选定质量m和过滤器窗口宽度w的第一函数RF(m,w)，且DC电压为选定质量m和过滤器窗口宽度w的第二函数DC(m,w)。该方法包括以下步骤：i)在第一时间t₁校准第二质量分析仪，ii)在比在质量分析模式中操作第二质量分析仪的第一时间t₁稍后的第二时间t₂处在选择具有过滤器窗口宽度w_cal的质量过滤器窗口中的质量的质量选择模式中校准第一四极杆。

主权项

1.一种用于校准质谱仪的方法，所述质谱仪包括离子源、作为第一四极杆的第一质量分析仪、第二质量分析仪和用以检测离子的检测构件，其中从所述离子源射出的离子可在轨道上移动到所述检测构件，通过两个质量分析仪，其中其首先通过所述第一四极杆且然后通过所述第二质量分析仪或反之亦然，所述第一四极杆在选择具有过滤器窗口宽度w的质量过滤器窗口中的质量的质量选择模式中可操作为预选择质量分析仪，其中RF电压和DC电压施加到所述第一四极杆的电极，所述RF电压的振幅为选定质量m和所述过滤器窗口宽度w的第一函数RF(m,w)，且所述DC电压为所述选定质量m和所述过滤器窗口宽度w的第二函数DC(m,w)，所述方法包括以下步骤：i)在第一时间t₁校准所述第二质量分析仪，ii)在比在质量分析模式中操作所述第二质量分析仪的所述第一时间t₁稍后的第二时间t₂处在选择具有所述过滤器窗口宽度w_cal的所述质量过滤器窗口中的质量的所述质量选择模式中校准所述第一四极杆，包括以下步骤：ii a)个别地针对若干选定质量m_cal中的每一个确定施加到所述第一四极杆的所述电极的所述RF电压的振幅的对应值RF_det(m_cal)和DC电压的值DC_det(m_cal)，ii b)将所述选定质量m的函数RF_fit(m,w_cal)适配到对应于所述若干选定质量m_cal的所述RF电压的所述振幅的所述值RF_det(m_cal)，且将所述选定质量m的函数DC_fit(m,w_cal)适配到对应于所述若干选定质量m_cal的DC电压的所述值DC_det(m_cal)，ii c)对于一些质量和/或所述若干选定质量中的至少一些m_check，在扫描期间在所述检测构件处经由在质量分析模式中操作的所述第二质量分析仪来检测质量m_check，所述第一四极杆在指派到所述质量m_check的质量范围ρ_{mass_m_check}上在选择具有所述过滤器窗口宽度w_cal的所述质量过滤器窗口中的质量的所述质量选择模式中操作为预选择分析仪，所述质量范围ρ_{mass_m_check}包括所述质量m_check且大于所述第一四极杆的所述质量选择模式的所述质量过滤器窗口的所述过滤器窗口宽度w_cal，施加到所述第一四极杆的所述电极的所述RF电压的所述振幅由所述函数RF_fit(m,w_cal)给定，且施加到所述第一四极杆的所述电极的所述DC电压由所述函数DC_fit(m,w_cal)给定，ii d)当施加具有由所述函数RF_fit(m,w_cal)给定的所述振幅的所述RF电压和由所述函数DC_fit(m,w_cal)给定的所述DC电压时，针对在所述检测构件处检测的质量m_check中的每一个评估选择具有所述过滤器窗口宽度w_cal的所述质量过滤器窗口中的质量的所述第一四极杆的所述质量选择模式的峰值位置Δm(m_check)和/或过滤器窗口宽度偏差Δw(m_check)，ii e)如果在所述检测构件处检测的质量m_check的所述峰值位置位移Δm(m_check)和/或所述过滤器窗口宽度Δw偏差(m_check)的所评估值并不符合所述校准的质量条件，或如果满足另一重复条件，那么重复校准步骤ii a)到ii e)，在步骤ii a)中在所述第一四极杆的所述质量选择模式中使用所述函数RF_fit(m,w_cal)作为第一函数RF(m,w)，且DC_fit(m,w_cal)作为第二函数DC(m,w)，直至满足所述校准的所有质量条件且不满足重复条件或所述校准步骤ii a)到ii e)已经执行N次。