[发明专利]运用二维特征的侧向层析检测有效
申请号: | 201710694875.X | 申请日: | 2013-07-17 |
公开(公告)号: | CN107597218B | 公开(公告)日: | 2021-03-02 |
发明(设计)人: | 布伦丹·奥法雷尔;托马斯·C·蒂森 | 申请(专利权)人: | SYMBOLICS有限责任公司 |
主分类号: | B01L3/00 | 分类号: | B01L3/00;G01N33/558 |
代理公司: | 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 | 代理人: | 吴泳历 |
地址: | 美国加利福*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及运用二维特征,优选均一的二维检测和对照特征的新型侧向层析装置,提供层析对照信息、作为内部对照和/或为所述检测装置提供内部校准信息。本发明还涉及利用所述侧向层析装置提供层析对照信息、作为内部对照和/或为所述检测装置提供内部校准信息的方法。 | ||
搜索关键词: | 运用 二维 特征 侧向 层析 检测 | ||
【主权项】:
暂无信息
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