[发明专利]一种用于芯片设计的功能验证方法及平台在审
申请号: | 201710702836.X | 申请日: | 2017-08-16 |
公开(公告)号: | CN107491605A | 公开(公告)日: | 2017-12-19 |
发明(设计)人: | 赵鑫鑫;姜凯;李朋;尹超 | 申请(专利权)人: | 济南浪潮高新科技投资发展有限公司 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 济南信达专利事务所有限公司37100 | 代理人: | 孟峣 |
地址: | 250100 山东省济南市*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于芯片设计的功能验证方法及平台,用于在基于PLB总线的芯片设计时,对该芯片内的寄存器和ram模块的读写功能测试,该方法的步骤如下首先通过读取寄存器和ram模块的信息,建立寄存器信息文档;设计自动脚本模块,该自动脚本模块根据寄存器信息文档生成测试向量,并针对该测试向量运行测试,最后将测试结果输出,完成验证过程。本发明的一种用于芯片设计的功能验证方法及平台与现有技术相比,可以完成基于PLB总线的设计中的寄存器和ram模块的测试,具有开发周期短、通用性强和自动化程度高的特点,可以大幅度提高芯片验证效率;实用性强,适用范围广泛,易于推广,具有广阔的应用前景。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 芯片 设计 功能 验证 方法 平台 | ||
【主权项】:
一种用于芯片设计的功能验证方法,其特征在于,用于在基于PLB总线的芯片设计时,对该芯片内的寄存器和ram模块的读写功能测试,该方法的步骤如下:一、首先通过读取寄存器和ram模块的信息,建立寄存器信息文档;二、设计自动脚本模块,该自动脚本模块根据寄存器信息文档生成测试向量,并针对该测试向量运行测试,最后将测试结果输出,完成验证过程。
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