[发明专利]一种确定飞行高温颗粒几何尺度的装置及方法有效
申请号: | 201710703789.0 | 申请日: | 2017-08-16 |
公开(公告)号: | CN107490532B | 公开(公告)日: | 2019-10-25 |
发明(设计)人: | 张衍国;李清海 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01N15/02 | 分类号: | G01N15/02;C21B3/08;C21B3/06 |
代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 张建纲 |
地址: | 100084*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种确定飞行高温颗粒几何尺度的装置,包括罩壳和高温炉。高温炉内有坩埚,坩埚下方设置坩埚喷管,坩埚底部中心有连通孔与坩埚喷管相通。坩埚喷管穿过高温炉底部通入罩壳上部;罩壳内设置有离心转盘,位于坩埚喷管下方。罩壳内设置分级隔板,将罩壳分隔成粒化室和颗粒观察室;离心转盘设置在粒化室内;分级隔板上布置有梯形筛选锥孔。坩埚底部的连通孔设置有可竖直提拉移动的锥形阀。高温颗粒从坩埚掉落离心转盘被甩开成颗粒流,小于筛选锥孔的颗粒进入颗粒观察室,利用高速摄像机记录飞行轨迹,计算时均面积和时均周长以计算定性粒径和球形度。本发明具有非接触式、可连续测量等优点。 | ||
搜索关键词: | 坩埚 罩壳 喷管 高温颗粒 离心转盘 高温炉 隔板 几何尺度 观察室 连通孔 分级 锥孔 筛选 坩埚底部中心 高速摄像机 非接触式 飞行轨迹 连续测量 颗粒流 面积和 球形度 锥形阀 掉落 飞行 成粒 分隔 粒化 粒径 竖直 提拉 周长 定性 相通 穿过 室内 记录 移动 | ||
【主权项】:
1.一种确定飞行高温颗粒几何尺度的装置,其特征在于:所述装置包括罩壳(1)和设置在罩壳(1)上方的高温炉(6);所述高温炉(6)内部设置有坩埚(7),所述坩埚(7)下方设置坩埚喷管(9),坩埚(7)底部中心有连通孔(4)与坩埚喷管(9)相通;所述坩埚(7)底部的连通孔(4)设置有可竖直提拉移动的锥形阀(8);所述坩埚喷管(9)穿过所述高温炉(6)底部通入罩壳(1)上部;所述罩壳(1)内部设置有离心转盘(20),所述离心转盘(20)位于所述坩埚喷管(9)下方,所述离心转盘(20)的竖直中心线与所述坩埚喷管(9)的竖直中心线重合;所述罩壳(1)内设置分级隔板(15),所述分级隔板(15)将罩壳(1)分隔成水平并列布置的粒化室(3)和颗粒观察室(16);所述颗粒观察室(16)顶部设置有摄像机(11),在摄像机(11)镜头的下方水平布置有刻度尺(13),所述刻度尺(13)通过支杆(14)固定在所述分级隔板(15)的侧面;所述离心转盘(20)设置在所述粒化室(3)内;所述分级隔板(15)上布置有筛选锥孔(10);所述粒化室(3)内布置有电机(19),所述电机(19)与所述离心转盘(20)通过联轴器(21)相连。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学,未经清华大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710703789.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。