[发明专利]一种测试探测器像元内不均匀性的装置及方法有效

专利信息
申请号: 201710703816.4 申请日: 2017-08-16
公开(公告)号: CN107449587B 公开(公告)日: 2023-05-05
发明(设计)人: 邱鹏;贾磊;邹思成;王建峰;兀颖;张鑫;芦嘉裕;陈腾;曾显群;李陶然 申请(专利权)人: 中国科学院国家天文台;中国科学院大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 代理人: 巴晓艳
地址: 100024 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明主要属于天文观测领域,具体涉及一种测试探测器像元内不均匀性的装置及方法。所述装置包括点光源系统和运动平台;所述运动平台使得待测的探测器在XYZ三维方向上运动;所述点光源系统提供小于探测器像元尺寸的像斑,运动平台置于点光源系统一侧,所述点光源在所述点光源系统的探测器像元内成像。本发明提供了测量探测器像内不均匀性的装置和方法,使用该装置和方法可以测量探测器像元内不均匀性,便于筛除均匀性较差的探测器,同时测量得到的数据可作为探测器拍摄目标图像的校准使用。
搜索关键词: 一种 测试 探测器 像元内 不均匀 装置 方法
【主权项】:
一种测试探测器像元内不均匀性的装置,其特征在于,所述装置包括点光源系统和运动平台;所述运动平台使得待测的探测器在XYZ三维方向上运动;所述点光源系统提供小于探测器像元尺寸的像斑,运动平台置于点光源系统一侧,所述点光源在所述探测器的像元内成像。
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