[发明专利]降低光谱自吸收效应的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201710710751.6 申请日: 2017-08-18
公开(公告)号: CN107525785B 公开(公告)日: 2018-05-11
发明(设计)人: 曾庆栋;余华清;童菊芳;王波云;熊良斌;肖永军;宣文静;张珍云;吕昊;丁么明 申请(专利权)人: 湖北工程学院
主分类号: G01N21/63 分类号: G01N21/63
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 王宁宁
地址: 432000 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明实施例提供一种降低光谱自吸收效应的方法和装置,应用于LIBS系统,该方法包括基于初始离焦量以第一预设值为步进单位调节离焦量以实现对定标样品集中待测元素的参数遍历,并在该参数满足预设规则时停止参数遍历,根据所述参数获取在不同离焦量时对定标样品集中的待测元素进行定量分析的定标曲线;根据所述定标曲线计算所述待测元素在不同离焦量时对应的自吸收系数并保存;选取所述自吸收系数中的最大值,并将该最大值对应的离焦量作为降低所述自吸收效应的最优参数。本发明通过调节离焦量实现参数遍历,并根据遍历结果计算、选取光谱自吸收效应最优时对应的参数,以得到薄而均匀的低温低电子密度的等离子体。
搜索关键词: 降低 光谱 吸收 效应 方法 装置
【主权项】:
1.一种降低光谱自吸收效应的方法,应用于LIBS系统,其特征在于,所述方法包括:基于初始离焦量以第一预设值为步进单位调节离焦量以实现对定标样品集中待测元素的参数遍历,并在该参数满足预设规则时停止参数遍历;根据所述参数获取在不同离焦量时对定标样品集中的待测元素进行定量分析的定标曲线;根据所述定标曲线计算所述待测元素在不同离焦量时对应的自吸收系数并保存;选取所述自吸收系数中的最大值,并将该最大值对应的离焦量作为降低所述自吸收效应的最优参数。
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