[发明专利]一种精确高效的天线罩电性能分析方法有效
| 申请号： | 201710712133.5 | 申请日： | 2017-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN107391880B | 公开（公告）日： | 2020-07-31 |
| 发明（设计）人： | 顾昊;樊康;李国平;眭韵;冯红全;余兴;玄晓波 | 申请（专利权）人： | 上海无线电设备研究所 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06F30/17 |
| 代理公司： | 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 | 代理人： | 朱成之 |
| 地址： | 200090 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种精确高效的天线罩电性能分析方法，包含：S1、建立天线罩的几何物理三维模型，并进行网格剖分；S2、根据天线近场口径分布，计算入射到天线罩内壁的入射电磁场；S3、计算天线罩表面的反射系数和透射系数；S4、计算天线罩表面的初始电磁流；S5、采用迭代物理光学公式和GPU加速，反复迭代计算天线罩表面的电磁流，直至获得稳定的表面电磁流；S6、分析计算天线罩的电性能；S7、当电性能参数不满足设计要求时，通过调整天线罩介电常数、天线罩壁厚等参数，反复执行S1～S6进行优化。本发明通过修正的迭代物理光学求解天线罩罩体的辐射问题，能够兼顾数值方法的速度和高频方法的精度，为天线罩电性能设计节省大量的前期优化时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 精确 高效 天线罩 性能 分析 方法 | ||
【主权项】：
一种精确高效的天线罩电性能分析方法，其特征在于，包含以下步骤：S1、根据设计要求，优化建立天线罩的几何物理三维模型，并对其进行网格剖分；S2、根据天线近场口径分布，计算入射到天线罩内壁的入射电场和入射磁场；S3、计算天线罩表面不同位置的反射系数和透射系数；S4、根据入射电场、入射磁场、反射系数和透射系数，计算天线罩表面的初始电流和初始磁流，为后续迭代物理光学提供初始值；S5、根据天线罩表面的初始电流和初始磁流，采用迭代物理光学公式和GPU加速，反复迭代计算天线罩表面的电磁和电流，直至获得稳定的表面电磁和电流；S6、分析天线罩的电性能：根据稳定的表面电磁和电流获取辐射特性，计算天线罩的电性能参数；S7、判断天线罩的电性能参数是否满足设计要求；如否，则通过调整天线罩介电常数、天线罩壁厚等参数，反复执行S1～S6，对天线罩的电性能参数进行优化，直至其满足设计要求。
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