[发明专利]芯片的调试方法、装置、存储介质和处理器有效
| 申请号： | 201710716024.0 | 申请日： | 2017-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN107607853B | 公开（公告）日： | 2020-03-17 |
| 发明（设计）人： | 张路;高晨明 | 申请（专利权）人： | 北京集创北方科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 赵囡囡 |
| 地址： | 100176 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片的调试方法、装置、存储介质和处理器。该方法包括：选择与目标调试信号对应的第一处理模块，其中，目标调试信号用于调试目标芯片；通过第一处理模块输出目标调试信号；在允许目标调试信号输出至目标芯片的情况下，控制目标调试信号输出至目标芯片，其中，目标芯片与目标总线相连接；通过目标总线根据目标调试信号对目标芯片进行调试。通过本发明，达到了提高芯片的调试效率的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 调试 方法 装置 存储 介质 处理器 | ||
【主权项】：
一种芯片的调试方法，其特征在于，包括：选择与目标调试信号对应的第一处理模块，其中，所述目标调试信号用于调试目标芯片；通过所述第一处理模块输出所述目标调试信号；在允许所述目标调试信号输出至所述目标芯片的情况下，控制所述目标调试信号输出至所述目标芯片，其中，所述目标芯片与目标总线相连接；通过所述目标总线根据所述目标调试信号对所述目标芯片进行调试。
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