[发明专利]用于应力泄漏测量的电路和操作包括晶体管的器件的方法有效
| 申请号： | 201710723930.3 | 申请日： | 2017-08-22 |
| 公开（公告）号： | CN107783020B | 公开（公告）日： | 2020-10-30 |
| 发明（设计）人： | 埃马努埃莱·博达诺 | 申请（专利权）人： | 英飞凌科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 韩雪梅;康建峰 |
| 地址： | 德国瑙伊*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了用于应力泄漏测量的电路和操作包括晶体管的器件的方法。根据实施例，一种电路包括：栅极驱动电路；输出晶体管以及耦接至栅极驱动电路的栅极；常通晶体管，该常通晶体管包括耦接至栅极驱动电路并耦接至输出晶体管的栅极的负载路径；以及上拉器件，其中，输出晶体管被配置成：当对耦接至输出晶体管的栅极的电流测试节点施加测量电压并且对常通晶体管的栅极施加关断电压时，在测试模式下提供测试泄漏电流；以及栅极驱动电路被配置成：当常通晶体管的栅极的电压经由上拉器件被上拉至上拉节点的电压时，在正常操作模式下向输出晶体管的栅极提供栅极驱动电压。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 应力 泄漏 测量 电路 操作 包括 晶体管 器件 方法 | ||
【主权项】：
一种用于应力泄漏测量的电路，包括：栅极驱动电路；输出晶体管，所述输出晶体管具有耦接在电源节点与输出节点之间的第一负载路径和耦接至所述栅极驱动电路的栅极；常通晶体管，所述常通晶体管包括耦接至所述栅极驱动电路并耦接至所述输出晶体管的栅极的第二负载路径；以及上拉器件，所述上拉器件耦接在所述常通晶体管的栅极与上拉节点之间，其中，所述输出晶体管被配置成：当对耦接至所述输出晶体管的栅极的电流测试节点施加测量电压并且对所述常通晶体管的栅极施加关断电压时，在测试模式下提供测试泄漏电流；以及所述栅极驱动电路被配置成：当所述常通晶体管的栅极的电压经由所述上拉器件被上拉至所述上拉节点的电压时，在正常操作模式下向所述输出晶体管的栅极提供栅极驱动电压。
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