[发明专利]光学三维轮廓测量中的无效点探测与剔除方法

摘要

本发明公开了一种光学三维轮廓测量中的无效点探测与剔除方法，以图中像素点对应的投影仪图像坐标到其对极线的距离，作为有效性判据，该判据直接关系后续的三维重建精度，不随被测物表面特性及测量环境等影响，具有全局适用性，避免了选取阈值不合适而造成无效点误探的问题，从而可以准确探测无效点并将其剔除，获得仅含有效点的三维重建结果，为后续点云噪声剔除、点云拼接及曲面重构提供高质量的数据。

主权项

1.光学三维轮廓测量中的无效点探测与剔除方法，其特征在于，包括以下步骤：/n步骤一，计算测量系统的基础矩阵，为后续无效点的探测做准备；/n步骤二，投影仪向被测物分别投影多频相移条纹图，并被相机依次拍摄采集，并发送至计算机中，多频相移条纹图中包括横竖两种条纹，其中，频率最高的横竖条纹图用于测量，其余频率的横竖条纹图用于解包裹；/n步骤三，计算机计算拍摄条纹的相位图，并根据相位图获得图中每个像素点的投影仪图像坐标，采用相移算法计算拍摄条纹的包裹相位图，并结合多频条纹解包裹算法，得到解包裹相位图；根据横条纹和竖条纹的解包裹相位图，计算图中每个像素点对应的投影仪图像坐标；/n步骤四，计算机根据步骤一得到的基础矩阵，计算相位图中每个像素点在投影仪像面的对极线，并计算每个像素点对应的投影仪图像坐标到对极线的距离，作为每个像素点的有效性判据，得到整幅图像的有效判据图；/n步骤五，设置合适的阈值，将有效判据图中所有超过阈值的像素点标记为无效点，其对应的标记值为0，其余点为有效点，标记值为1；/n步骤六，剔除有效判据图中所有标记值为0的点，仅对标记值为1的点进行三维重建，得到剔除无效点的三维点云数据。/n