[发明专利]一种发射药压伸成型药条尺寸测量方法在审

专利信息
申请号: 201710729557.2 申请日: 2017-08-23
公开(公告)号: CN107300367A 公开(公告)日: 2017-10-27
发明(设计)人: 张江波;魏学涛;赵颖;梁磊;刘毅;肖霞;严文荣;周媛丽;赵晓梅;闫光虎;赵煜华 申请(专利权)人: 西安近代化学研究所
主分类号: G01B15/00 分类号: G01B15/00;G01B15/02;G01N15/00
代理公司: 中国兵器工业集团公司专利中心11011 代理人: 梁勇
地址: 710065 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种能够实现对多根发射药的药条参数进行同时测量,且测量到弧厚、孔径及药体内部颗粒物的发射药压伸成型药条尺寸测量方法。本发明采用采用X射线探头的方法,能够精确的获得发射药药条的各类信息,包括药条内部孔径、弧厚、直径,是否存在未胶化的颗粒。与现有技术相比,实现了发射药压伸过程中弧厚、孔径及颗粒的实时测量,拓展了测试范围;采用三个X射线探头均布的方法,实现了多根发射药药条同时测量,解决了多跟发射药同时出药时的发射药药型测试问题。与现有技术相比,实现了多根发射药药条同步实时测量,为压伸工艺参数调整及模具设计提供了技术支持。
搜索关键词: 一种 发射 药压伸 成型 尺寸 测量方法
【主权项】:
一种发射药压伸成型药条尺寸动态测量方法,其特征在于步骤如下:(1)将胶化好的发射药药料放入药缸,打开数据采集处理系统,三个X射线探头依次120度夹角均布,角度三维空间内可自由调整,药条的出药口垂线位于三个X射线探头均布的中心;(2)启动压伸机,发射药药条经导药筒后进入探测区域;(3)三个X射线探头将探测到的信号传输到数据采集处理系统,由其完成图像生成处理;(4)获得药型外径、弧厚、内径,颗粒物的分布数据。
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