[发明专利]一种数据差错校验方法及装置、计算机存储介质在审
| 申请号： | 201710730724.5 | 申请日： | 2017-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN109428670A | 公开（公告）日： | 2019-03-05 |
| 发明（设计）人： | 黄梅莹;许进;徐俊 | 申请（专利权）人： | 深圳市中兴微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | H04L1/00 | 分类号： | H04L1/00;H04L1/16;H04L1/18 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 蒋雅洁;张颖玲 |
| 地址： | 518055 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种数据差错校验方法及装置、计算机存储介质，所述方法包括：对码块群CBG中的各个码块进行前向纠错FEC译码和循环冗余校验CRC；根据所述各个码块与FEC码空间的关系以及所述各个码块的CRC校验结果，对所述CBG进行差错校验，得到CBG差错校验结果；根据所述CBG差错校验结果，生成用于表征CBG接收正确的指示信息或CBG接收错误的指示信息；根据所述各个码块的差错校验结果、所述各个CBG差错校验结果、以及传输块的CRC校验结果，对所述传输块进行差错校验，得到传输块的差错校验结果；根据所述传输块的差错校验结果，生成用于表征传输块接收正确的ACK信息或传输块接收错误的NACK信息。 | ||
| 搜索关键词： | 差错校验结果 码块 传输 计算机存储介质 传输块接收 差错校验 数据差错 指示信息 校验 循环冗余校验 前向纠错 对码 | ||
【主权项】：
1.一种数据差错校验方法，其特征在于，所述方法包括：对码块群CBG中的各个码块进行前向纠错FEC译码和循环冗余校验CRC；根据所述各个码块与FEC码空间的关系以及所述各个码块的CRC校验结果，对所述CBG进行差错校验，得到CBG差错校验结果。
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