[发明专利]半导体装置及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201710741007.2 申请日: 2017-08-25
公开(公告)号: CN108573977B 公开(公告)日: 2022-06-17
发明(设计)人: 吉水康人;下城义朗;荒井伸也 申请(专利权)人: 铠侠股份有限公司
主分类号: H01L27/11551 分类号: H01L27/11551;H01L27/11556;H01L27/11578;H01L27/11582
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 张轶楠;段承恩
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开涉及半导体装置及其制造方法。本发明的实施方式提供能够缩小下层布线宽度的半导体装置及其制造方法。实施方式的半导体装置中,电极层(70)的与过孔(81)的侧面相向的端面(70a)与过孔(81)的侧面之间的、沿着过孔(81)的直径方向的距离(d1),比绝缘体(72)的与过孔(81)的侧面相向的端面(72a)与过孔(81)的侧面之间的沿着直径方向的距离(d2)大。
搜索关键词: 半导体 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体装置,具备:下层布线;上层布线;层叠体,其设置于所述下层布线与所述上层布线之间,并且具有隔着绝缘体层叠的多个电极层;导电性的过孔,其贯通所述层叠体而将所述上层布线与所述下层布线连接;以及绝缘膜,其设置于所述过孔与所述层叠体之间,所述电极层的与所述过孔的侧面相向的端面与所述过孔的所述侧面之间的、沿着所述过孔的直径方向的距离,比所述绝缘体的与所述过孔的所述侧面相向的端面与所述过孔的所述侧面之间的沿着所述直径方向的距离大。
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