[发明专利]一种基于取样变频技术的高精度频率测量系统及方法有效
| 申请号： | 201710742024.8 | 申请日： | 2017-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN107576846B | 公开（公告）日： | 2019-09-10 |
| 发明（设计）人： | 刘宝东;任水生;杜念文;白轶荣;李伟;刘强;丁建岽 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
| 主分类号： | G01R23/06 | 分类号： | G01R23/06 |
| 代理公司： | 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 | 代理人： | 董雪 |
| 地址： | 266555 山东省*** | 国省代码： | 山东;37 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于取样变频技术的高精度频率测量系统及方法，包括：依次连接的中频处理部件、射频计算部件和射频校验部件；中频处理部件用于实现中频测量过程中的针对某一输入本振测量中频、判断中频测量结果是否满足频率测量分辨率要求以及判断中频测量结果中是否存在影响测量的交调信号，如果存在则进行交调排除；射频计算部件用于根据中频处理部件两次测量的中频值，计算出谐波次数、正负号以及对应的射频值；射频校验部件用于校验射频计算部件计算出来的射频值是否为谐波信号，如果是谐波信号则进行谐波排除。本发明有益效果：可以实现高频信号的稳定测量；可以有效排除影响测量的交调信号进行正确的频率测量；可以识别谐波并有效排除。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 取样 变频 技术 高精度 频率 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于取样变频技术的高精度频率测量系统，其特征在于，包括：依次连接的中频处理部件、射频计算部件和射频校验部件；所述中频处理部件用于实现中频测量过程中的针对某一输入本振测量中频、判断中频测量结果是否满足频率测量分辨率要求，以及判断中频测量结果中是否存在影响测量的交调信号；所述射频计算部件用于根据中频处理部件两次测量的中频值，计算出谐波次数、正负号以及对应的射频值；所述射频校验部件用于校验射频计算部件计算出来的射频值是否为谐波信号，如果是谐波信号则进行谐波排除。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第四十一研究所，未经中国电子科技集团公司第四十一研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710742024.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
