[发明专利]半导体封装元件的检测系统及其热阻障层元件有效

专利信息
申请号: 201710748478.6 申请日: 2017-08-28
公开(公告)号: CN109425812B 公开(公告)日: 2021-03-12
发明(设计)人: 廖致傑;孙育民;程志丰 申请(专利权)人: 创意电子股份有限公司;台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01R1/02
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 徐金国
地址: 中国台湾新*** 国省代码: 台湾;71
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 一种半导体封装元件的检测系统及其热阻障层元件。半导体封装元件的检测系统包含一测试电路板、一测试基座、至少一探针销及一热阻障层元件。测试电路板具有至少一电性接点。测试基座用以容纳一受验元件。探针销位于测试基座上,用以接触受验元件。热阻障层元件位于测试电路板与测试基座之间,电性连接且热隔绝探针销与电性接点。如此,测试基座及受验元件的热能不致迅速朝测试电路板的方向散去,不仅降低受验元件的试验数据不够精准的机会,也确保热能不致伤害测试电路板。
搜索关键词: 半导体 封装 元件 检测 系统 及其 阻障
【主权项】:
1.一种检测系统的热阻障层元件,其特征在于,包含:一绝缘垫;以及至少一导电隔热部,形成于该绝缘垫上,其中该导电隔热部具有包含纳米碳管的气凝胶,或者,具有包含纳米碳管的硅胶。
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