[发明专利]一种近场热辐射实验测量装置在审

专利信息
申请号: 201710750538.8 申请日: 2017-08-28
公开(公告)号: CN107367524A 公开(公告)日: 2017-11-21
发明(设计)人: 张平;冼耀琪;袁朋;曾建华;翟四平;肖经;杨道国 申请(专利权)人: 桂林电子科技大学
主分类号: G01N25/20 分类号: G01N25/20
代理公司: 桂林市华杰专利商标事务所有限责任公司45112 代理人: 周雯
地址: 541004 广西*** 国省代码: 广西;45
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摘要: 发明公开了一种近场热辐射实验测量装置,涉及辐射换热测试技术领域,解决的技术问题是实现在微纳米尺度下准确测量近场热辐射换热量,测量时横向热辐射损失小且机械结构简单,该装置包括上位移加载装置(1)、下位移加载装置(2)、密封底盘装置(3)、真空罩(4)、还包括测量单元(5)、测距光纤(6),所述测量单元(5)安放在所述上位移加载装置(1)、下位移加载装置(2)之间,所述测距光纤(6)贯穿所述上位移加载装置(1)止于所述测量单元(5)上,通过光谱的分析可获得检测样品间隙的距离。本发明测量时横向热辐射损失小,可采用两种方式调节样品间距且间距可调控范围大,实现了在微纳米尺度下准确测量近场热辐射换热量。
搜索关键词: 一种 近场 热辐射 实验 测量 装置
【主权项】:
一种近场热辐射实验测量装置,包括:上位移加载装置(1)、下位移加载装置(2)、密封底盘装置(3)和真空罩(4),滑动螺杆(7)依次从上至下连接所述上位移加载装置(1)、下位移加载装置(2)、密封底盘装置(3),滚珠套筒(8)套装在所述滑动螺杆(7)上对所述下位移加载装置(2)进行相对移动限位,所述真空罩(4)罩住所述上位移加载装置(1)、下位移加载装置(2)并置于所述密封底盘(3)上,其特征在于:还包括测量单元(5)、测距光纤(6),所述测量单元(5)安放在所述上位移加载装置(1)、下位移加载装置(2)之间,所述测距光纤(6)贯穿所述上位移加载装置(1)止于所述测量单元(5)上,通过光谱的分析可获得检测样品间隙的距离。
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