[发明专利]一种MOSFET芯片的版图结构及MOSFET芯片在审
申请号: | 201710753747.8 | 申请日: | 2017-08-29 |
公开(公告)号: | CN107658293A | 公开(公告)日: | 2018-02-02 |
发明(设计)人: | 俞峥;陈敏;欧新华;袁琼;符志岗;刘宗金 | 申请(专利权)人: | 上海芯导电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L27/088 |
代理公司: | 上海申新律师事务所31272 | 代理人: | 俞涤炯 |
地址: | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及半导体技术领域,尤其涉及一种MOSFET芯片的版图结构及MOSFET芯片,应用于一MOSFET芯片;MOSFET芯片包括终端区,第一数量的隔离环组以及第一数量的有源区,每个有源区包括栅极金属;每个隔离环组分别围绕对应的有源区设置,用于将对应的有源区与终端区相隔离;每个隔离环组包括内外间隔围绕的第二数量的隔离环;版图结构包括一焊盘,设置于终端区;第一连线,横跨每个有源区,并将每个有源区的栅极金属并联;第一连线还与焊盘连接能够在芯片面积不变的情况下提高有源区的面积,进而增加元胞结构的数量,降低源漏导通电阻。 | ||
搜索关键词: | 一种 mosfet 芯片 版图 结构 | ||
【主权项】:
一种MOSFET芯片的版图结构,应用于一MOSFET芯片;所述MOSFET芯片包括终端区,第一数量的隔离环组以及所述第一数量的有源区,每个所述有源区包括栅极金属;每个所述隔离环组分别围绕对应的所述有源区设置,用于将对应的所述有源区与所述终端区相隔离;每个所述隔离环组包括内外间隔围绕的第二数量的隔离环;其特征在于,所述版图结构包括:一焊盘,设置于所述终端区;第一连线,横跨每个所述有源区,并将每个所述有源区的所述栅极金属并联;所述第一连线还与所述焊盘连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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