[发明专利]Die测试装置及方法有效
| 申请号： | 201710754524.3 | 申请日： | 2017-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN107677951B | 公开（公告）日： | 2019-12-06 |
| 发明（设计）人： | 龙红卫;卢浩;李志雄;肖浩;吴方;胡宏辉;邓恩华;谭康强 | 申请（专利权）人： | 深圳市江波龙电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/319 |
| 代理公司： | 44237 深圳中一专利商标事务所 | 代理人： | 官建红<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区科发路8*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种Die测试装置，包括用于放置待测试Die的针卡模块、用于存储测试程序的程序储存模块、电流测试模块以及测试控制模块，所述测试控制模块接收测试开关命令对待测试Die进行电流测试和功能测试并上传测试结果，通过设置测试控制模块，读取预存的测试程序对Die完成功能测试，也可以控制电流测试模块对Die加载电压进行电流测试，通过设置低成本的独立模块对封装前的晶元进行测试，将不良品挑选出来，达到最大的使用效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试控制模块 电流测试 功能测试 测试 读取 程序储存模块 电流测试模块 测试程序 测试模块 测试装置 存储测试 独立模块 加载电压 接收测试 开关命令 控制电流 使用效率 不良品 低成本 晶元 上传 预存 针卡 封装 | ||
【主权项】：
1.一种Die测试装置，其特征在于，包括用于放置待测试Die的针卡模块、用于存储测试程序的程序储存模块、与所述针卡模块连接的电流测试模块以及测试控制模块，所述测试控制模块与所述针卡模块、所述程序储存模块和所述电流测试模块连接；所述电流测试模块包括主控制器、第一电压输出单元、第二电压输出单元、用于电平转换的电平转换单元以及对Die工作电流进行采样的采样单元，所述测试控制模块接收测试开关命令对待测试Die进行电流测试和功能测试并上传测试结果，其中：/n所述电流测试包括：控制所述电流测试模块向待测试Die提供电压同时检测待测试Die的工作电流；/n所述功能测试包括：根据所述程序储存模块的测试程序对待测试Die进行写读程序，对比读与写的程序是否一致并得出对比结果。/n
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