[发明专利]一种基于红外掩星传感器校正切高值的方法有效

专利信息
申请号: 201710754530.9 申请日: 2017-08-29
公开(公告)号: CN107543562B 公开(公告)日: 2019-10-15
发明(设计)人: 李小英;朱松岩;邹铭敏;王红梅;王雅鹏;苗晶 申请(专利权)人: 中国科学院遥感与数字地球研究所
主分类号: G01D3/028 分类号: G01D3/028;G01N21/31
代理公司: 北京亿腾知识产权代理事务所(普通合伙) 11309 代理人: 陈霁
地址: 100101 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种红外掩星传感器切高校正方法。包括:通过红外掩星传感器获取一级数据,所述一级数据包括多个切高和大气成份;对所述一级数据进行波数处理,去除所述多个切高中的异常切高值;以及在波数范围内对所述大气成份中的多种气体进行敏感性分析;通过所述敏感性分析,在所述波数范围基础上排除所述大气成份中对波数有影响的气体后,采用对数梯度三角法对所述一级数据中的切高进行校正。本申请提供的快速切高校正方法更简便、快速、准确的基于掩星传感器特征的切高校正。
搜索关键词: 一种 基于 红外 传感器 校正 切高值 方法
【主权项】:
1.一种基于红外掩星传感器校正切高值的方法,其特征在于,包括以下步骤:通过红外掩星传感器获取初始数据,对所述初始数据进行处理得到一级数据,所述一级数据包括多个一级切高和大气成份;对所述一级数据进行波数处理,去除所述多个一级切高中的异常切高值;以及在波数范围内对所述大气成份中的多种气体进行敏感性分析;通过所述敏感性分析,在所述波数范围基础上排除所述大气成份中对波数有影响的气体后,选取得到用于订正的波数微窗,采用对数梯度三角法对去除异常切高值后的一级切高进行校正。
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