[发明专利]静电阱质量分析器的操作方法有效
申请号: | 201710755958.5 | 申请日: | 2017-08-29 |
公开(公告)号: | CN107799383B | 公开(公告)日: | 2020-04-10 |
发明(设计)人: | C·R·威斯布洛德;M·W·森柯;J·D·坎特巴里;J·E·P·赛卡 | 申请(专利权)人: | 萨默费尼根有限公司 |
主分类号: | H01J49/02 | 分类号: | H01J49/02;H01J49/42 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 姬利永;钱慰民 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种操作静电捕集质量分析器的方法,包括:将离子样本引入所述质量分析器的捕集区,其中所述捕集区内的捕集场使得所述离子相对于该捕集区的中心纵轴表现出径向运动,同时在由所述中心纵轴限定的维度中经历谐波运动,特定离子的谐波运动的频率是其质荷比的函数;将调制场叠加到所述捕集区内的捕集场上,该调制场用于将所述离子的谐波运动能量增大或减小根据谐波运动的频率而变化的量;以及通过测量代表由所述离子的谐波运动引起的镜像电流的信号来获取所述捕集区中的所述离子的质谱。 | ||
搜索关键词: | 静电 质量 分析器 操作方法 | ||
【主权项】:
一种操作静电捕集质量分析器的方法,包括:将来自离子群的离子样本引入所述质量分析器的捕集区,其中所述捕集区内的既定捕集场使得所引入的离子样本中的离子被引起相对于该捕集区的中心纵轴表现出径向运动,同时在由所述捕集区的中心纵轴限定的z维度中经历谐波运动,特定离子的谐波运动的频率是其质荷比的函数;将调制场叠加到所述捕集区内的捕集场上,所述调制场用于将所述离子的谐波运动能量增大或减小根据谐波运动的频率而变化的量;以及通过测量代表由所述离子的谐波运动引起的镜像电流的信号来获取所述捕集区中的离子的质谱。
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