[发明专利]一种纳米晶旋转磁特性测试系统及测量方法

摘要

本发明公开了一种纳米晶旋转磁特性测试系统及测量方法，属于纳米晶材料磁特性测量设备，涉及纳米晶材料旋转磁特性测量装置和测量方法。包括NI工控机、LabVIEW信号发生和采集板卡、旋转磁特性测试仪、功率放大器、阻抗匹配电容箱、B‑H复合磁传感器及差分放大电路；本发明两正交磁路采用对称式双轭结构，两磁路独立励磁，可根据实际工况进行圆形、椭圆形和平面内任意方向上的交变励磁。B‑H复合磁传感器由两个H线圈以及四根探针组成，两窗口方向垂直的H线圈绕制在可拆卸的方形内环PCB基板上用于测试两个正交方向上的磁场强度H，四根钢针安装于外PCB基板上，两个探针为一组，测试两个方向的磁通密度B。外PCB基板设计焊点和导线固定孔。测试样品两侧设置匀场保护层，保证测试区域的均匀性，提高测试精度。

主权项

1.一种纳米晶旋转磁特性测试系统，包括NI工控机，与工控机相连LabVIEW信号发生和采集板卡，LabVIEW板卡的信号输出端依次连接功率放大器，梯形分段式励磁绕组，阻抗匹配电容箱，大功率水冷电阻作为系统的励磁回路；B‑H复合磁传感器经屏蔽线分别经过差分放大电路，LabVIEW板卡的信号输入端作为系统的采集回路；其特征在于：励磁回路采用匹配电容箱，利用串联谐振，提高励磁电流。